1. 개정이유 및 주요내용

기업의 연구 및 투자 활성화를 효율적으로 지원하기 위하여 관세감면(80%) 대상 산업기술 연구개발용 물품에 액셀․브레이크로봇, 차량냉각팬 등 33개 품목을 추가하고, 지진기록계, 수분측정기 등 74개 품목을 제외하려는 것임.

2. 참고사항

가. 관계법령 : 생    략

나. 예산조치 : 별도조치 필요 없음

다. 합    의 : 미래창조과학부 등과 합의되었음

라. 기    타 : 1) 신ㆍ구 조문대비표 별첨

2) 입법예고(2013. 4. 26 ～ 6. 5) 결과, 특기할 사항 없음

기획재정부령 제       호

관세법 시행규칙 일부개정령안

관세법 시행규칙 일부를 다음과 같이 개정한다.

별표 1을 별지의 별표1과 같이 개정한다.

부칙

제1조(시행일) 이 규칙은 공포한 날부터 시행한다.

제2조(적용례) 이 규칙은 이 규칙 시행 후 최초로 수입신고하는 물품부터 적용한다.

[별표 1]

법 제90조제1항제4호에 따라 관세가 감면되는 산업기술 연구ㆍ개발용 물품 (제37조제4항제1호 관련)
연번	관세율표 번호		품명	규격
	호	소호
1	7308	90	제진대	건물 진동을 제어하는 것으로서 액티브 타입(Active Type)인 것으로 한정한다.
2	8405	10	질소 발생기	99.95퍼센트 이상의 고순도 질소를 발생할 수 있는 것으로 한정한다.
3	8413 8414	19,50 10	펌프 또는 액체질소순환펌프	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 터보 몰레큘러 펌프(Turbo Molecular Pump) 또는 다이아프램 펌프(Diaphragm Pump)인 것 2. 최대 토출량이 분당 0.5리터(L) 이상인 것 3. 컴퓨터 프로그램에 의한 자동 작동과 수동 조작이 가능한 것 4. 진공펌프로서 펌핑 스피드(Pumping Speed)가 분당 200리터 이상인 것
4 신규	8419	39	분무건조기	70도 이상 고온의 기류 속에서 액체를 미립자로 분산시켜 분말을 건조시키는 것으로 한정한다.
5	8419 8479 9031	89 89 80	고온고압 시험기(Pressure Cooker Tester) 또는 고온고압 장치(Hot Isostatic Press)	최고 섭씨 100도 이상으로 가열이 가능한 것으로서 다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 2바 이상으로 가압이 가능한 것 2. 37.9킬로파스칼(kPa)±5퍼센트로 가압이 가능한 것
6	8419	89	냉동장치, 냉각장치 또는 동결 건조기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 냉각용량(Cooling Capacity)이 500와트(W) 이상인 것 2. 섭씨 영하 45도 이하로 냉각 또는 냉동이 가능한 것
7	8419	89	반응기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 수지합성 실험용 반응기로서 재질이 유리 또는 스테인레스스틸(Stainless Steel)인 것 2. 토너 제조용 반응기로서 6리터 용량의 반응기 6개가 각각 제어되는 것
8	8419 9031	89 80	부식성 시험기 또는 부식성 측정기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 전기화학적 측정 또는 분극곡선 측정이 가능한 것으로서 측정 주파수 범위가 10마이크로헤르츠 이상인 것 2. 복합 부식시험이 가능한 것으로서 건조, 습도, 염수, 온도, 이산화탄소 농도, 광조사(光照射) 또는 결로(結露) 조건 중 2가지 이상의 조건을 설정할 수 있는 것 3. 테스트 스페이스의 용량이 480리터 이상인 것
9	8419 8479 8486	89 89 30,40, 90	압착기 또는 합착기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 태양전지용 글라스기판이나 반도체기판을 최고 섭씨 100도 이상으로 압착할 수 있는 것 2. 평판디스플레이용 상하기판을 진공 또는 상압(대기압)상태에서 실링(Sealing)재를 사용하여 합착하는 것
10	8419 8479 9012	89 89 90	이온밀링장치(Ion Milling System)	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 이온빔을 이용하여 반도체 웨이퍼 또는 시편을 가공할 수 있는 것 2. 가속전압이 1킬로볼트(kV) 이상 6킬로볼트 이하 범위를 포함하고 있으며, 아르곤 이온 건(Ar Ion Gun) 또는 아르곤 가스를 이용한 장치인 것 3. 투과전자현미경 또는 주사전자현미경 분석을 위한 박편 및 단면 시료 제작이 가능한 것
11	8419 8479 9024 9031	89 89 10,80 80	충격 시험기, 열충격 시험기 또는 낙하 시험기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 측정 허용오차 범위가 ±10퍼센트 이하인 것 2. 인쇄회로기판, 반도체소자 또는 반도체모듈의 성능을 시험하는 것으로서 최고 온도가 섭씨 100도 이상이고 최저 온도가 섭씨 영하 40도 이하인 것 3. 최대 낙하 높이가 1미터 이상인 것 4. 열충격 시험기로서 체임버(Chamber) 내의 온도 정도가 ±3도 이하인 것 5. 측정온도 범위가 섭씨 영하 180도에서 영상 300도 까지인 것
12 신규	8419	89	PCT 체임버(PCT Chamber)	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 섭씨 105도에서 162.2도까지 온도 조절이 가능한 것 2. 75퍼센트에서 100퍼센트까지 상대습도 조절이 가능한 것 3. 0.02메가파스칼(MPa) 이상 0.392메가파스칼 이하까지 압력 조절이 가능한 것
13	8419 8479 9031	89 89 80	항온항습기(항온기, 항습기, 항습배양기를 포함한다)	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 온도 정도(精度)가 ±2.0도 이하이거나 습도 정도가 ±5퍼센트 이하인 것 2. 온도분포가 최대 사용온도 섭씨 100도 이상 또는 최소 사용온도가 섭씨 영하 40도 이하인 것 3. 온도범위가 섭씨 영하 40도 이상 섭씨 150도 이하이며 습도의 범위가 30퍼센트 이상 95퍼센트 이하인 것 4. 체임버(Chamber) 내부의 크기가 500밀리미터(가로)×600밀리미터(세로)×400밀리미터(높이) 이내인 것 5. 온도와 습도의 비율이 각각 ±0.3도와 3퍼센트인 것 6. 70분 내에 섭씨 영하 40도에서 섭씨 150도까지 온도를 상승시킬 수 있는 것
14	8419 8479 9031 9406	89 89 80 00	환경체임버(항온 항습 체임버를 포함한다), 이엠시체임버(EMC Chamber) 또는 환경시험장치(Light Soaking Machine)	온도ㆍ습도ㆍ시간ㆍ조명도(照明度) 또는 사이클(Cycle)의 조정이 가능한 것으로서 다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 제논램프(Xenon Lamp)를 장착한 것 2. 온도의 허용오차 범위가 ±3.0도 이하이거나 습도의 허용오차 범위가 ±5.0퍼센트 이하인 것 3. 섭씨 영하 20도 이상 섭씨 225도 이하의 범위에서 온도조절이 가능한 것 4. 전자파 적합(EMC, Electromagnetic Compatibility) 차폐기능을 갖고 있거나 전자파 장해(EMI, Electromagnetic Interference), 전자파 내성(EMS, Electromagnetic Susceptibility) 또는 안테나의 방사능력(Radiation)을 측정할 수 있는 것 5. 컴퓨터제어 방식인 것으로서 온도⋅습도⋅강우⋅강설⋅일사⋅진동⋅기압⋅복사⋅압력⋅염수(鹽水)⋅광조사(光照射)⋅건조⋅결로 또는 먼지 중 3가지 이상을 조절할 수 있는 것
15	8421	19	원심분리기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 6×1리터 단위의 원심분리가 한번에 가능한 것 2. 미생물의 균체회수, 혈액분리 및 제제⋅단백질 농축에 필요한 중력가속도 생성이 가능한 것 3. 회전속도를 분당 20회 단위로 설정이 가능한 것 4. 섭씨 영하 20도 이상 영상 40도까지 1도 단위로 온도 설정이 가능한 것 5. 염화불화탄소(CFC) 및 오존 비사용 냉각방식을 사용한 온도조절 방식인 것 6. 최대속도가 분당 6,000회인 것
16 신규	8421	29	연속 크로마토그래피 분리장치(Simulated Moving Bed Chromatography)	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 1개의 가드 컬럼(Guard Column)과 4개 이상의 이온교환 컬럼(Ion Exchange Column)으로 구성되어 연속적으로 목표물질을 분리하여 생산할 수 있도록 구성된 것 2. 처리용량이 시간당 1리터 이상인 것
17	8423	20	무게 감응형 운반장치	알갱이(Pellet), 분말(Powder) 또는 유리섬유(Glass Fiber)를 압출하는 장비로서 원재료를 시간당 5킬로그램 이상 70킬로그램 이하로 정량 투입할 수 있는 것으로 한정한다.
18	8424 9024	30 10,80	비석 시험기	잡석을 비석(飛石)하여 자동차 외장부품 도막(塗膜) 상태를 측정하는 것으로 한정한다.
19	8424	89	용제 분사기 (Spray Fluxer)	제곱센티미터(㎠) 당 5킬로그램의 공압(空壓)으로 용제(Flux)를 분사해 주는 것으로 한정한다.
20	8443 8486	19,32,39 20	스크린 프린터	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 스퀴지(Squeegee)의 최대 속도가 초당 0.2미터 이상인 것 2. 솔더 크림(Solder Cream), 솔더 페이스트(Solder Paste) 또는 에폭시(Epoxy)를 사용하여 프린트를 할 수 있는 것
21	8443 8486	39,99 30	인쇄기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 레이저 방식, 잉크젯 방식 또는 스퀴지 방식인 것 2. 평판(Flat-Panel) 디스플레이용 글라스에 배향막(配向膜)을 인쇄하거나 도포(塗布)하는 것 3. 피에조(Piezo) 원리를 이용하여 잉크를 분사하는 프린트 헤드(Print Head)인 것
22 신규	8454 8479	30 89	고압주조기	자동 또는 수동제어로 작동할 수 있는 것으로서 수평식 콜드 체임버(Cold Chamber) 방식이고 최대 형체력(形體力: Clamping Force)이 800톤(Ton) 이상이며 사출력이 40톤 이상인 것으로 한정한다.
23	8456 8459 8479	10 29 89	드릴링기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 레이저를 이용하여 다층 인쇄회로기판의 홀(Hole)을 가공하는 것으로서 지름이 100마이크로미터(㎛) 이하인 홀을 가공할 수 있는 것 2. 엑스선을 이용하여 드릴링(Drilling)할 기준점의 위치를 인식할 수 있는 것으로서 가공위치 정확도가 ±10마이크로미터 이하인 것
24	8456	10	레이저 가공기	레이저를 이용하여 적층세라믹 콘덴서 인쇄용 롤(Roll)의 패턴(Pattern)을 가공할 수 있는 것으로 한정한다.
25	8456 8486 9013	10 20,40 20	레이저 발생기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 질소 또는 자외선(UV) 레이저 방식으로서 최대 출력이 2밀리와트(mW) 이상인 것 2. 다이오드펌프(Diode Pump) 레이저 방식으로서 빔의 안정성이 5퍼센트 이하이거나 최대 출력이 2와트 이상인 것 3. 태양전지 제조용으로 유리기판 표면에 증착(蒸着)된 막(膜)을 레이저를 이용하여 선을 긋거나 제거하는 것 4. 엔디야그(Nd-YAG) 레이저 방식으로서 최대 출력이 1.5와트 이상이거나 3차원 형상의 가공이 가능한 것
26	8456 8486	10 20,40	레이저 분리기	발광다이오드(LED) 칩 연구용으로 웨이퍼와 증착막(蒸着膜)을 레이저를 이용하여 분리할 수 있는 것으로 한정한다.
27	8456 8479 8486 8543 9012	10,90 89 20,40 70 10	집속(集束) 이온빔장치(Focused Ion Beam System or Dual Beam FIB System) 또는 이온빔장치(Ion Beam System)	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 이온빔을 이용하여 반도체 웨이퍼 또는 시편을 가공할 수 있는 것 2. 가속전압 1킬로볼트 이상 40킬로볼트 이하 범위의 아르곤 이온 건(Ar Ion Gun) 또는 갈륨 이온 건(Ga lon Gun) 또는 을 장착한 것 3. 투과전자현미경(Transmission Electron Microscope) 또는 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope) 분석을 위한 박편 및 단면 시료 제작이 가능한 것 4. 최대 확대배율이 1백만배 이상인 것
28	8456	30	방전 가공기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 가공면의 최대 거칠기가 1.5마이크로미터 이하인 것 2. 와이어 이송속도(Wire Feed Speed)가 최대 초당 400밀리미터 이상인 것 3. 전극을 사용하는 것으로서 다음 각 목의 어느 하나에 해당하는 것 가. 주축 회전방식으로 헬리칼(Helical) 형상을 가공할 수 있는 것으로서 최소 분할각도가 0.001도 이내인 것 나. 0.02밀리미터 이하의 구멍을 가공할 수 있는 것 4. 최대 이송속도가 분당 1천500밀리미터 이상이고 가공탱크가 자동으로 상하 이동이 가능한 것 5. 지름이 0.05밀리미터 이하의 와이어선을 이용하여 가공하는 것으로서 와이어선의 자동결선이 가능한 것 6. 인쇄회로기판 소재의 폴리머표면 개질(改質)용으로서 플라스마(Plasma)처리 장소가 진공형태인 것 7. 테이블 가동부의 재질이 세라믹인 것으로서 가공면의 표면 거칠기가 1마이크로미터 이하로 가공이 가능한 것
29	8456 8461 8462 8464 8479 8486 8539 9027	30 50 41 10,90 89 20,40 90 90	절단기, 클리빙기(Cleaving Machine), 마이크로톰(Microtome), 금속 정밀 절단기 또는 와이어 커팅기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 웨이퍼, 시편(試片), 2차전지용 전해질 필름, 완성반도체(한 개의 기판에 봉합된 다수의 반도체를 포함한다) 또는 반도체 반제품을 절단하거나 클리브(Cleave)할 수 있는 것 2. 유리기판(Glass) 테두리에 돌출된 충진재(充塡材)와 백시트(Back Sheet)를 나이프(Knife)로 제거하는 것 3. 박막 칩의 적층에 필수적인 DAF(Die Attach Film)를 스크라이빙(Scribing) 또는 분할할 수 있는 것 4. 웨이퍼 또는 DAF를 절단 또는 그루빙(Grooving) 할 수 있는 것 5. 전자현미경 분석을 위한 시편절단장치로서 절삭, 절단, 연마 또는 연삭 작업의 수행이 가능한 것 6. 와이어 이송 속도(Wire Feed Speed)가 최대 초당 400밀리미터 이상인 것 7. 다이아몬드 휠, 레이저 또는 회전날 이용방식인 것 8. 유리(Glass)를 직선, 원형 및 선형으로 절단할 수 있는 것으로서 최대 절단속도가 분당 20m 이상인 것 9. 국제표준화기구(ISO)에서 규정한 인장 시편의 길이 및 노치(Notch) 가공이 가능한 것
30	8456 8479 8486	90 81,89 20,30, 40	세척기 또는 세정기	웨이퍼, 시편, 마스크, 마스크 용기, 레티클(Reticle), 레티클 용기, 반도체, 유기발광다이오드기판, 절삭공구류 표면의 산화막, 유기물 또는 인쇄회로기판을 화공약품, 초음파, 플라스마, 자외선, 순수(純水), 스프레이, 반응가스(Ar, O2, H2) 또는 증기를 이용하여 세척할 수 있는 것으로 한정한다.
31	8456 8459	90 59,69	밀링기(Milling Machine) 또는 클레이밀링머신(Clay Milling Machine)	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 최대 회전속도가 초당 10미터 이상인 것 2. 동시에 3축 이상을 제어할 수 있는 것
32	8457 8458 8464	10 11,91 90	머시닝센터 (Machining Center) 또는 터닝머신	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 자동차부품 제조용으로서 특수정밀 앵귤러 콘택트 베어링(Angular Contact Bearing)을 채용한 주축과 슬라이드 유닛을 근접거리에 설정 가능하고, 패턴프로그램이 자동적으로 면취(面取)하는 것(워크스토커 및 로딩ㆍ언로딩 장치를 포함한다) 2. 스핀들(Spindle)의 최대 회전속도가 분당 1만8천회 이상인 것 3. 렌즈 가공용으로 가공면의 최대 거칠기가 1마이크로미터 이하인 것 4. 선반 및 밀링을 융합한 복합가공 기능이 있는 것 5. 복합머시닝센터로서 머시닝, 선삭 및 연삭 등 3개의 기능을 융합한 복합가공 기능이 있는 것 6. 수치제어 방식으로서 동시에 5축 이상을 제어할 수 있는 것
33	8458 8460 8479	91 21 89	비구면(非球面) 가공기	금속 또는 렌즈를 절삭하거나 연삭하는 것으로서 가공면의 최대 거칠기가 10나노미터(nm) 이하인 것으로 한정한다.
34	8460 8461	11,19, 21,29, 31, 39 40	연삭기	수치제어 방식으로서 다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 지름이 100밀리미터 이상인 가공물의 연삭(硏削)이 가능한 것 2. 연삭축의 최대 회전속도가 분당 1만회 이상이거나 연삭숫돌의 최대 원주 속도(Peripheral Speed)가 초당 40미터 이상인 것 3. 보조축을 포함하여 6축 이상 제어할 수 있는 것 4. 기어 프로파일(Gear Profile) 연삭이 가능한 것 5. 브로치커터 프로파일(Broach Cutter Profile) 연삭 또는 날 연삭이 가능한 것 6. 드릴, 엔드밀 또는 인서트(Insert)의 홈, 여유면, 날끝각(Point) 또는 스플릿포인트(Split Point)를 가공하는 전용연삭기로서 가공지름이 0.05밀리미터 이상 80밀리미터 이하인 것 7. 로터리 버(Rotary Burr) 홈 연삭기로서 로터리 버의 지름이 25밀리미터 이하인 것 8. 드릴, 엔드밀 또는 밀링커터의 홈, 여유면 또는 날끝각을 가공하는 전용연삭기인 것 9. 탭의 나사연삭기로서 가공지름이 0.5밀리미터 이상인 것 10. 셰이빙 커터(Shaving Cutter) 연삭이 가능한 것 11. 자동차부품 제조용 수직형 양면연삭기로서 다음 각 목의 어느 하나에 해당하는 것 가. 최대지름이 585밀리미터 이상인 연삭지석(Grinding Wheel)의 장착이 가능한 것 나. 연삭방식이 로타리 캐리어(Rotary Carrier), 연삭지석 공급(Grinding Wheel Infeed) 또는 진동(Oscillation) 방식인 것 12. 스핀들(Spindle)의 회전속도가 분당 500회 이상 2,000회 이하인 것 13. 최대 연삭길이(Max Grinding Length)가 6,000밀리미터 이하이거나 최대 연삭폭(Max Grinding Width)이 1,000밀리미터 이하인 것
35	8460 8461 8464 8465 8486	21,40, 90 20,40 20 93 20,40	연마기, 연마기 시스템 또는 광택기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 이온빔 또는 연마미디어(연마천⋅연마액 또는 분말로 한정한다)를 사용하는 방식인 것 2. 반도체, 웨이퍼, 웨이퍼상의 레진(Resin), 평판디스플레이, 평판디스플레이용 글래스(Glass), 인쇄회로기판, 웜샤프트(Worm Shaft), 스퀴지(Squeegee) 또는 패키지 몰드(Package Mold) 연마용인 것 3. 다이아몬드 분말 또는 실리콘계 분말을 이용하여 절삭 공구류의 절삭 날에 있는 버(Burr)를 제거하거나 표면조도를 향상시키거나 또는 에지(Edge) 부분을 무디게 하는 것 4. 상판과 하판을 동시에 연마 가공할 수 있는 것 5. 연마 필름, 연마 테이프, 세라믹 롤(Ceramic Roll), 이온 빔 또는 연마미디어(연마천, 연마액 또는 분말로 한정한다)를 사용하는 방식인 것 6. 가공 면의 최대 거칠기가 0.2마이크로미터 이하인 것 7. 전자현미경 분석을 위한 시편절단장치로서 절삭, 절단, 연마 또는 연삭 작업의 수행이 가능한 것
36	8460	40	랩핑기	자동차 피스톤링(Piston Ring) 제조용으로서 연마 파우더(Powder)를 사용하여 외주면 랩핑(Lapping)이 가능한 것으로 한정한다.
37	8460	40	호닝기(Honing Machine)	자동차 엔진부품 가공용으로 호닝축의 최대 회전속도가 분당 1천회 이상인 것으로 한정한다.
38	8461	20,40	기어 셰이퍼 머신(Gear Shaper Machine) 또는 기어 셰이빙 머신(Gear Shaving Machine)	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 수치제어 방식으로 동시에 4축 이상을 제어 할 수 있는 것 2. 최대 가공 지름이 300밀리미터 이상이거나 주축의 최대 회전속도가 분당 350회 이상인 것
39	8462 8477 8479	21,99 10,20, 30,40, 59 89	성형기 또는 사출성형기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 성형압력이 최대 300바 이상인 것 2. 프레스(Press) 방식으로서 비구면 실리콘 렌즈 또는 비구면 유리 성형이 가능하거나 최대 성형압력이 30톤(Ton) 이상인 것 3. 진공상태에서 성형이 가능한 것 4. 캐스트 필름(Cast Film)용 엠보롤(Embossed Roll)의 지름이 144파이(π)이고 넓이가 350밀리미터인 것 또는 폴리싱롤(Polishin Roll)의 지름이 72파이이고 넓이가 350밀리미터인 것 5. 최대 사출용량이 1,060cc면서 스크루(Screw) 지름이 65mm인 것 6. 자동차 피스톤링(Piston Ring) 제조용으로서 다음 각목의 어느 하나에 해당하는 것 가. 성형판 방식으로 성형이 가능하며 절단장치를 포함하고 있는 것 나. 스페이서(Spacer)의 코일링(Coiling)이 가능한 것
40	8461	30	브로우칭 머신 (Broaching Machine)	유압(Twin-Cylinder)방식 또는 입형워크이동(Table-Up)방식으로 대형 내치(內齒)기어 및 헬리컬(Helcal) 내치기어를 가공하는 것으로 한정한다.
41 신규	8461 8479	40 89	기어앵글러챔퍼링머신(Gear Tooth Chamfering Machine)	챔퍼(Chamfer) 소재를 가공할 수 있는 것으로서 다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 주축이 5.5킬로와트(kW) 이상이고 커터 스핀틀이 고주파모터인 것 2. 주축의 회전수가 분당 2,500회 이상 1만회 이하인 것 3. 가공영역의 외경파이(Ø)가 20밀리미터 이상 450밀리미터 이하이고, 길이가 4밀리미터 이상 800밀리미터 이하인 것
42 신규	8461	90	격취기(Gap Sizing Line Full Set)	자동차 피스톤링(Piston Ring)의 틈새(Gap Sizing) 제조용으로서 세척(Washer) 또는 디버링 장치(Deburring Machine)를 포함하고 있는 것으로 한정한다.
43	8461	90	금형가공기(Grooving Machine)	금형을 가공할 수 있는 것으로서 1마이크로미터 이하로 패턴을 형성할 수 있는 것으로 한정한다.
44	8462 8477 8479	99 59 89	조형기	조형물의 제작 크기가 600밀리미터(가로)×600밀리미터(세로)×600밀리미터(높이) 이상인 것으로 한정한다.
45	8463	20	CNC전조기(내측)	바깥지름이 80밀리미터 이상인 소재를 가공할 수 있는 것으로 한정한다.
46	8471	60	온도센서 태그용 RFID리더 또는 액티브 태그용 노드	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 온도센서 태그(Tag)를 읽어 유에스비(USB)포트를 통하여 피시(PC) 등으로 전송하는 휴대용 또는 고정형 리더로서 안테나, 본체 및 입출력단자로 구성되고, 사용 주파수가 13.56메가헤르츠(MHz)인 것 2. 능동형 알에프아이디(RFID) 태그를 인식하고 태그가 전송하는 데이터를 받아 유무선 통신으로 호스트 피시로 전송하거나 호스트 피시의 명령을 태그로 전송하는 것으로서 안테나, 본체 및 접속단자로 구성되고, 주파수 대역이 2.4기가헤르츠(GHz)이며, 통신거리가 80미터 이상인 것
47	8474	80	광 조형기	적층두께(Layer Thickness)가 최대 0.15밀리미터 이하인 것으로 한정한다.
48	8477	10,20	압출기 또는 사출기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 연료전지 분리판용 소재를 제조하는 기기로서 2축 이상의 스크루(Screw)로 구성되고 고분자 수지에 80퍼센트 이상의 첨가제를 혼합하여 압출할 수 있는 것 2. 단축 압출가공 연구용으로 정확한 토크값을 측정할 수 있고, 온도와 압력 측정이 가능한 것
49 신규	8477	20	고체결정분해장치 (Decrystalizer)	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 강산(强酸)과 고체 성분을 혼합할 수 있는 것으로서 온도 조절이 가능한 것 2. 고체와 접촉하는 배럴(Barrel)의 재질이 30퍼센트에서 80퍼센트까지의 황산농도 또는 섭씨 50도 이상의 온도에서 내부식성을 갖는 합금으로 제조되거나 코팅된 것 3. 혼합반응기의 용량이 시간당 5킬로그램 이상인 것 4. 고체성분의 결정분해 반응 후 반응기 밖으로 내보낼 수 있는 이송장치가 있는 것
50	8477	20	필름 제조기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 필름 폭이 최대 300밀리미터 이상이고 필름 두께가 최대 20마이크로미터 이상 400마이크로미터 이하인 것으로 한정한다. 2. 스크루 지름(Screw Diameter)이 25밀리미터이고 회전속도가 분당 150회 이하이며 냉각온도가 섭씨 10도 이상인 것 3. 피시아이(Fisheye)를 이용하여 겔(Gel)을 측정하며 해상도 20마이크로미터 이하인 것
51	8477	59	다이(Die)	폭 900밀리미터와 알에이(Ra) 0.05 이상 0.1 이하의 조도를 가지는 것으로 한정한다.
52 신규	8477	80	가류기(Stream Press)	고무나 플라스틱의 가공용 또는 이들 재료를 사용하여 제품을 제조하는 것으로 한정한다.
53	8477 8479 8486 8514 8515	80 89 20,30 10,20, 30,40 19	로(爐, Furnace), 오븐, 히터(Heater) 또는 열처리장치	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 전기로(電氣爐)로서 최고 온도가 섭씨 500도 이상이고, 온도의 허용오차 범위가 ±8도 이하인 것 2. 확산용 또는 어닐링(Annealing)용인 것 3. 가열시 내부온도를 측정할 수 있는 것 4. 온도 프로그램 설정이 섭씨 300도 이상 가능하고 트레이(Tray)를 사용하여 필름 형태 건조가 가능한 것 5. 전기가열방식의 열처리장치로서 진공상태의 조건에서 최고온도가 섭씨 1천200도 이상인 것 6. 온도 프로그램이 가능하고, 로(爐) 내에 산소제거를 위해 질소 충진이 가능한 것 7. 온도범위가 섭씨 영하 20도 이상 섭씨 300도 이하인 것 8. 2차전지 소재 연구용으로 양극 소재 합성 및 열처리에 사용이 가능한 전기로로서 온도 프로그램의 설정이 가능하고 산소제거를 위해 질소 및 수소 충전이 가능한 것 9. 온도 정도가 ±2.0도 이하인 것 10. 외부공기가 시간당 60회 순환되며, 전기가열 방식을 통해 온도를 상온에서 섭씨 300도까지 조절할 수 있는 것 11. 표본(Sample)에 온도가 잘 전달되기 위해 고리(Hanger)가 장착되어 있고 최소 5알피엠 이상 최대 10알피엠 이하로 회전하며, 과열(Over Heat) 감지기가 설치되어 있는 것 12. 두 개의 로로 구성되어 한 로에서 고체시료를 용해시켜 다른 로에 부어 특정 모양의 고체 시편을 만들 수 있는 것 13. 진공오븐(Vacuum Oven)으로서 다음 각 목의 어느 하나에 해당하는 것 가. 온도 조절범위가 섭씨 20도서 200도까지인 것 나. 압력 조절범위가 0킬로파스칼(kPa)에서 마이너스 101킬로파스칼까지 조절이 가능한 것 다. 온도조절이 ±1.0도까지 가능한 것 14. 리플로 오븐(Reflow Oven)으로서 다음 각 목의 어느 하나에 해당하는 것 가. 오븐 안을 거치는 시료의 피크 온도를 300도 이상으로 유지 가능한 것 나. 오븐 안의 온도를 모니터링할 수 있는 장비를 갖춘 것 다. 오븐 안에 있는 각 영역의 온도를 1도 단위로 조절할 수 있는 것 15. 방폭 오븐(Temperature Chamber with Explosion Vent)으로서 다음 각목의 어느 하나에 해당하는 것 가. 온도 조절범위가 영상 20도 이상 300도 이하인 것 나. 오븐 내부의 크기가 450밀리미터(가로) × 450밀리미터(세로) × 450밀리미터(높이)인 것 다. 유지온도가 100℃에서 ±0.1도이고 300℃에서 ±0.2도인 것 라. 60분이내에 온도가 섭씨18도에서 300도까지 올라갈 수 있는 것 마. 휘발성 솔벤트 폭발시 안전을 확보할 수 있는 폭발 벤트(Vent) 및 안전도어를 갖추고 있는 것
54	8479 8486	81,89 20,30, 40	도포기(Coater), 코팅머신(Coating Machine) 또는 화학용액 증착장치	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 금속표면에 티타늄나이트라이드(TiN), 티타늄카보나이트라이드(TiCN), 티타늄알루미늄(TiAl) 또는 티타늄알루미늄실리콘나이트라이드(TiAlSiN)를 박막코팅하거나 2개 이상 조합하여 동시에 코팅이 가능한 것 2. 디스펜서(Dispenser) 방식, 전자빔 방식, 회전 방식, 이온빔 방식 또는 스프레이 코터(Spray Coater) 방식인 것 3. 토출량의 정밀도가 ±2퍼센트 이하인 것 4. 오스뮴코터(Osmium Coater) 방식으로 코팅두께 조절이 가능한 것
55 신규	8479	82	시료파쇄장치 (Jaw Crusher)	합금철, 광석류의 입자를 5밀리미터 이하로 파쇄할 수 있는 것으로 한정한다.
56	8479	82	혼합기, 분쇄혼합기, 분산기, 분쇄기 또는 니더(Kneader) 반응기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 입자를 지름 300마이크로미터 이하로 분쇄할 수 있거나, 분쇄한 입자를 분급(粉級)할 수 있는 것 2. 반도체 웨이퍼 연마용 슬러리(Slurry)를 혼합 하고 분배할 수 있는 것 3. 3개 이상의 롤(Roll) 또는 볼(Ball)을 이용한 분산장비로 니켈페이스트(Nickel Paste)를 분산할 수 있는 것 4. 액체질소를 사용하여 폴리머(Polymer)재료를 분쇄할 수 있는 것 5. 소재개발용으로서 교반기(Stirrer) 회전속도가 분당 1천 800회 이하인 것 6. 프린터 연구용으로서 3차원으로 혼합하고, 최대 혼합속도(Mixing Speed)가 분당 110회 이상인 것 7. 고분자 수지의 입자를 150마이크로미터 이상 850마이크로미터 이하의 크기로 분쇄할 수 있는 것 8. 공명(Resonant) 진동방식으로 2가지 이상 물질의 혼합이 가능한 것 9. 입자의 크기가 10나노미터에서 10마이크로미터까지 분산이 가능한 것 또는 점도가 1,000센티푸아즈(cP, Centipoise) 이하인 것 또는 작동온도가 90℃ 이하인 것 10. 최대 10킬로그램까지 균일혼합이 가능하고, 분당 23회 이상 100회 이하로 혼합이 가능한 것
57	8479 9027	89 10,80	가스 분할기(Gas Divider)	가스의 농도를 분할하는 것으로서 재현성(Repeatability)이 ±0.5퍼센트 이하인 것으로 한정한다.
58	8479	89	글러브박스	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 질소나 아르곤을 이용하는 것 2. 압력조절 밸브가 설치되어 있는 것으로 내부압력이 단위면적(㎠)당 1킬로그램 이상 2킬로그램 이하의 중력을 받는 것
59	8479 8486	89 20,30, 40	막성장장치 또는 박막결정화장치	플라스마 방식, 습식방식 또는 가스의 화학반응을 이용하여 막을 증착하는 것으로 한정한다.
60	8479	89	분말 믹서기 또는 분말 조립기	2차전지 또는 연료전지 연구용으로서 나노 크기의 분말을 마이크로미터 크기로 조립화하고, 분말의 크기 조절이 가능한 것으로 한정한다.
61	8479 8486	89 20	웨이퍼 보조시스템	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 웨이퍼에 테이프, 유리 또는 실리콘 캐리어(Silicon Carrier)를 접착하거나 제거할 수 있는 것 2. 웨이퍼, 유리 또는 실리콘 캐리어를 세척 또는 코팅하여 재생할 수 있는 것
62	8479	89	자동운전 사이클 장치	컴퓨터제어 방식으로서 차량의 조향장치(操向裝置)를 자동으로 조절하는 것으로 한정한다.
63	8479	89	자외선 검출기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 자외선(UV) 313나노미터 또는 자외선 340나노미터의 램프를 사용하는 것 2. 이온이 없는 물(Deionized Water)을 사용하는 것
64	8479 8486 8534	89 20 00	전도성 필름 부착기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 태양전지 모듈 연구용으로 전도성 필름을 열압착 방식으로 접합하는 것 2. 두께가 80밀리미터 이하이고 길이가 60밀리미터 이하인 유리패널을 접합할 수 있는 것 3. 폭이 1.5밀리미터 이상 7.0밀리미터 이하이고 길이가 60밀리미터 이하인 전도성 필름을 접합할 수 있는 것 4. 접합 정확도가 가로축(X)과 세로축(Y)이 각각 ±0.3밀리미터, ±0.2밀리미터 이내인 것
65	8479	89	전자부품 재조립 기기 또는 전자부품장착기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 전자기기에 실장(實裝)되는 전자기판과 칩(Chip)에 불량이 발생한 경우 재조립을 할 수 있는 것 2. 인쇄회로기판 위에 부품을 자동으로 탑재할 수 있는 것
66	8479 8486	89 30	주입기 또는 분주기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 10마이크로리터(㎕) 이하의 시료를 분주(分注)할 수 있는 것 2. 반도체, 반도체 웨이퍼 또는 평판디스플레이 제조용으로서 이온, 가스, 액정 또는 액체 시료 주입용인 것
67	8479 8486	89 30	증착기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 유기발광다이오드 제조용 유리 기판 또는 플라스틱 기판 위에 회로형성을 위하여 금속 또는 유기물을 증착하는 것 2. 공구 제조용으로 티타늄카바이드(TIC), 티타늄카보나이트라이드(TICN), 산화알루미늄(Al2O3), 보로나이트티타늄(TiB2), 지르코늄나이트라이드(ZrN), 티타늄나이트라이드(TiN), 알루미늄티타늄나이트라이드(AlTiN), 티타늄알루미늄카본나이트라이드(TiAlCN), 티타늄알루미늄나이트라이드(TiAlN), 알루미늄크롬나이트라이드(AlCrN), 알루미늄티타늄실리콘나이트라이드(TiAlSiN) 또는 하프늄나이트라이드(Hfn)을 박막코팅하거나 2개 이상을 조합하여 동시에 코팅이 가능한 것 3. 유기발광다이오드(OLED) 제조용 유리 기판 또는 플라스틱 기판 위에 회로형성을 위하여 무기물을 증착하는 것 4. 배치(Batch) 방식으로 최대 24매까지 동시 증착이 가능한 것 5. 유기발광다이오드(OLED) 유기물 위에 인듐틴옥시드(ITO, Indium Tin Oxide) 전극을 형성시키기 위한 것
68	8479 9031	89 80	충돌시험 배리어(Barrier)	차량 충격력(Impact Force) 측정용으로서 데이터 수집 및 저장 기능이 있는 것으로 한정한다.
69	8479	89	코어 플러딩(Core Flooding) 분석기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 유체의 입력 압력이 1만프사이 이하에서 분당 10리터 이하의 유량으로 물 또는 탄화수소류 유분을 암석에 주입할 수 있으며, 압력(정압 또는 차압) 측정기를 사용하여 압력차 확인이 가능한 것 2. 최대 직경이 12인치(Inch) 이하이고 최대 길이가 36인치 이하인 코어 홀더를 사용한 것
70 신규	8479	89	코어홀더 (Core Holder)	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 유체의 입력압력이 최대 1만프사이 이하인 것 2. 직경이 최대 12인치이고 길이가 최대 36인치 이하인 것
71	8479 8539 8543 9031	89 49 70 80	태양광발생기	자외선, 적외선 또는 가시광선 등 인조 태양광을 발생하는 것으로서 출력이 100와트 이상인 것으로 한정한다.
72	8479	89	펀칭기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 펀칭 핀(Pin)을 이용하여 3밀리미터 이하의 홀을 가공할 수 있는 것으로서 가공위치 정확도가 ±10마이크로미터 이하인 것 2. 절삭력이 최대 50킬로뉴턴(kN)의 힘을 가진 펀칭커터(Cutter) 날을 이용하여 플라스틱 시험편 제작시 규격 허용오차 범위가 ±5마이크로미터이면서 최대 공기압이 10바 이하인 것
73	8479 8486 9011	89 30 20	포집기 또는 헤드스페이스트랩샘플러(Headspace Trap Sampler)	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 평판디스플레이용 유기기판에 열탈착을 이용하여 고체, 액체 또는 기체 중의 미량의 휘발성분을 분석하기 위하여 포집하는 것 2. 자외선 경화형 레진(Resin), 플라스틱 또는 평판 디스플레이의 샘플에 자외선을 조사(照射)하거나 가열시 발생되는 가스를 농축하는 것 3. 평판디스플레이 제조공정에서 휘발성 유기화합물을 포집하여 저온 농축하고 10일 이상 보관 가능한 것 4. 시료병으로부터의 증기 추출이 덫(Trap)을 향하고, 덫에서의 탈착현상을 통해 가스크로마토그래피(GC) 안으로 보낼 수 있는 것 5. 밀폐용기에 담긴 고체 또는 액체 시료를 섭씨 18도의 상온에서 200도까지 가열한 후 발생시킨 휘발물을 포집, 농축하여 가스크로마토그래피에 자동주입이 가능한 것
74 신규	8479	89	포화기(Saturator)	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 진공 상태를 만들 수 있는 것 2. 1시간 이상 진공 상태를 유지할 수 있는 것 3. 압력이 최대 1만 프사이 이하인 것
75 신규	8479 8486	89 20	교환기 (Exchanger)	마스크(Mask) 또는 레티클(Reticle)을 규격이 다른 용기로 이동시킬 수 있는 것으로 한정한다.
76 신규	8479 9024 9031	89 10 80	부분밀도측정기	방사선을 성형체에 투과시켜서 밀도를 측정하는 방식인 것으로서 방사선의 세기가 90밀리퀴리(mCi) 이상 115밀리퀴리 이하인 것으로 한정한다.
77 신규	8479	89	큐리점열분해기(Curie Point Pyrolyzer)	전류가 흐르는 동안 큐리 점을 유지시키면서 발생되는 열분해물을 가스크로마토그래피에 주입시킬 수 있는 것으로 한정한다.
78 신규	8479	89	액셀⋅브레이크로봇(Accel & Braking Robot)	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 최소 1,400뉴턴의 감속력으로 감속 또는 초당 800밀리미터의 속도로 가속이 가능한 것 2. 100킬로미터까지 설정한 값의 ±5퍼센트 내에서 감속 및 가속을 할 수 있는 것
79 신규	8479	89	자동냄새농축시스템	고체, 액체 또는 기체 중에서 미량의 휘발 성분을 분석하기 위한 장치로서 별도의 표본(Sampler)없이 시료의 직접 주입이 가능한 것으로 한정한다.
80	8486	20,40	납볼 탑재기 또는 납볼 부착기	납볼(Solder Ball)을 인쇄회로기판 또는 웨이퍼의 표면에 장착할 수 있는 것으로 한정한다.
81	8486 8543	20,40 30	도금기	자동차부품 제조용으로서 다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 탄소와 수소로 구성되는 비결정 구조를 가지고 다이아몬드-라이크 카본(DLC) 코팅 가능한 것 2. 신형 로드(Rod) 증발원을 탑재하여 특수형태 자기장에 의한 아크스팟(Arc Spot)의 위치제어로 막 두께 분포 및 연속 2배치 자동운전처리가 가능한 것 3. 반도체용 웨이퍼, 웨이퍼 칩 또는 리드프레임(Lead Frame)을 도금할 수 있는 것 4. 30마이크로미터 이하의 두께로 도금할 수 있는 것
82	8486	20,40	레이업 장비	전력을 생산하기 위한 전극(Ribbon)을 세팅 및 고정하기 위한 것으로 한정한다.
83	8486	20,40	실링기	유리기판과 백시트 또는 유리기판 사이의 합착면을 실링하는 것으로 한정한다.
84	8486	20,40	적재기	반도체용 웨이퍼 또는 레티클(Reticle)을 적재하는 것으로서 질소를 공급할 수 있는 것으로 한정한다.
85	8486	20,40	접합기	발광다이오드 칩 연구용 또는 반도체 연구용으로 박막이 형성된 웨이퍼와 웨이퍼를 압력방식으로 접합하는 것으로 한정한다.
86	8486	30	레이저 결정화기	평판디스플레이 연구용으로서 글라스에 증착된 아몰퍼스 실리콘(a-Si)을 레이저를 이용하여 폴리 실리콘(p-Si)으로 결정화하는 것으로 한정한다.
87	8486	30	리페어기(Review Repair)	평판디스플레이의 회로를 레이저빔 또는 연마테이프를 이용하여 수정하는 것으로 한정한다.
88	8486 8543	30 70	자외선 조사기	다음 각 호의 어느 하나에 해당되는 것으로 한다. 1. 자외선을 조사(照射)하여 표면 특성을 변경시키는 것 2. 자외선 조도 균일도가 ±5퍼센트인 것
89	8486	40	라미네이터 (Laminator)	반도체의 웨이퍼, 칩(Chip) 또는 서브스트레이트(Substrate)에 필름을 밀착시키거나 압착하는 것으로 한정한다.
90	8486	40	범프 형성기	반도체 웨이퍼에 금, 구리, 납 또는 솔더(Solder)를 이용하여 미세한 돌기(Bump)를 형성하는 것으로 한정한다.
91	8504	33,34, 40	전원 공급기 또는 전압 공급기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 전압이 최대 35볼트 이상이거나 전류가 최대 2암페어(A) 이상인 것 2. 정격출력이 2천킬로볼트암페어(kVA) 이상이거나 8천와트 이상인 것 3. 220볼트 전원 입력시 주파수의 변환이 가능하고 입력주파수 정도가 ±0.01퍼센트 이하이거나 출력전원이 450볼트암페어(VA) 이상인 것
92	8518 8543	40 70	증폭기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 최대 증폭 주파수가 26메가헤르츠 이상인 것 2. 진동, 소음, 충격, 압력, 전압, 전류 또는 스트레인(Strain) 증폭용인 것 3. 최대 출력이 100와트 이상인 것
93	8521 9031	90 80	영상 분석기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 고선명텔레비전(HDTV) 에스디아이(SDI) 규격의 비디오신호 분석 및 에스디아이 검사신호 발생용인 것 2. 에이치디(HD) 또는 에스디(SD) 포맷 영상을 재생 및 측정할 수 있는 것 3. 트랜스포트 스트림(Transport Stream)의 엘리멘트리 스트림(Elementary Stream) 및 엠펙(MPEG) 영상을 분석할 수 있는 것 4. 입력 채널이 4개 이상인 것
94	8543	70	신호 변환기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 아날로그신호와 디지털신호를 서로 변환할 수 있는 것으로서 사용가능 주파수가 2천헤르츠 이상인 것(디지털 텔레비전용을 포함한다) 2. 무선주파수(RF, Radio Frequency) 출력이 10메가헤르츠 이상인 것 3. 엔티에스씨(NTSC, National Television System Committee) 비디오(Video)의 채널 수가 4개이고 알에스232(RS232, Recommended Standard 232)의 인터페이스(Interface)가 4채널 이상이며 크기가 125밀리미터(가로)×105밀리미터(세로) 이하인 것 4. 이더넷(Ethernet)이 4채널 이상이며 크기가 125밀리미터(가로)×105밀리미터(세로) 이하인 것 5. 원하는 대역의 주파수 신호를 선택할 수 있는 것 6. 디지털 신호를 조정할 수 있는 컨버터 기능이 있는 것
95	8525 8543	50 70	디지털 송신기 또는 디지털 변조기(Digital Modulator)	디지털방송, 디지털멀티미디어방송(DMB) 또는 디지털오디오방송(DAB)용으로서 다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 8배 잔류측파대(VSB) 변조 방식인 것 2. 직교주파수분할다중(OFDM) 변조 방식인 것 3. 다위상 진폭변조(QAM) 방식인 것 4. 코드직교주파수분할다중(COFDM) 방식인 것
96	8525	80	고속 비디오동작 촬영장치	초당 150프레임(Frame Per Second) 이상을 촬영할 수 있는 것으로 한정한다.
97	8525 9011 9012 9031	80 10,20, 80 10 80	현미경	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 전자총이 전계 방사(Field Emission)형인 것 2. 2천600파스칼(㎩) 이상의 저진공 상태에서 시료의 관찰이 가능한 것 3. 원자현미경으로서 시료의 전기적 또는 물리적 특성을 분석할 수 있는 것 4. 광학현미경 또는 형광현미경으로서 영상 촬영 및 컴퓨터 단말연결이 가능한 것 5. 투과전자현미경 또는 주사형투과전자현미경인 것 6. 주사전자현미경으로서 시료의 표면 상태를 감지ㆍ분석 및 영상처리할 수 있는 것 7. 광학현미경으로서 입도, 표면의 크기, 홀 또는 깊이 측정이 가능한 것 8. 편광현미경으로서 디지털 이미지에 대한 확인이 가능한 것 9. 발열화상현미경으로서 반도체 또는 웨이퍼상 발열을 검출하거나 또는 위치를 특정하는 것
98	8526	91	항법장비	지피에스(GPS) 센서와 관성항법 센서(Inertial Navigation System)가 결합된 항법장비로서 측정 정확도가 0.5도 이하이고, 최대 측정 각속도(角速度)가 초당 150도 이상인 것으로 한정한다.
99	8529	10,90	이엠시(EMC) 안테나	자동차 전장품 또는 전자기기에서 발생되는 이엠시(EMC) 신호를 수신하는 것으로서 최대 50메가헤르츠 이상의 주파수 수신이 가능한 것으로 한정한다.
100	8537 9030 9031 9032	10 84,89 80 89	동력 시험기 또는 동력시험기기 제어기(차량동력계제어기를 포함한다)	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 와전류형(Eddy Current Type), 직류형(DC Type), 교류형(AC Type) 또는 수력형(Hydraulic Type)으로서 다음 각 목의 어느 하나에 해당하는 것 가. 분당 회전수 측정 정도가 ±0.5퍼센트 이하인 것 나. 토크 측정 오차범위가 ±0.5퍼센트 이하인 것 다. 추력(Thrust)이 최대 250뉴턴(N) 이하이고 회전 토크 측정능력이 10뉴턴미터(Nm) 이하로 측정이 가능한 것 라. 추력이 500뉴턴이고 회전 토크 측정능력이 25뉴턴미터인 것 2. 와전류형으로서 최대 200킬로와트 이상인 엔진의 성능을 시험할 수 있는 것 3. 자동차, 엔진 또는 변속기 시험용으로서 최대 동력 흡수 능력이 200킬로와트 이상인 것 4. 자동차, 선박 또는 자동차 타이어 연구용으로서 컴퓨터제어 방식으로 동력시험기기 제어 및 데이터 수집이 가능한 것 5. 차량동력계 기계장치로부터 정보를 입력받아 모터, 주변장치 제어를 위한 연산수행 및 데이터 수집⋅관리가 가능한 것
101	8537 9031	10 80	이시유(ECU) 제어기, 이시유 개발 시험기 또는 이시유 에뮬레이터	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 자동차용 엔진제어기 또는 변속기제어기를 시험하기 위한 것으로서 최대 처리속도가 300메가헤르츠 이상이거나 듀얼포트램(Dual Port Ram)을 갖춘 것 2. 엔진의 크랭크(Crank) 위치신호나 차량 속도신호를 입력할 수 있는 것 3. 자동차용 엔진제어기를 시험하기 위한 것으로서 가상의 엔진회전속도 또는 차량속도를 조정할 수 있는 것 4. 엔진의 점화신호(Spark)나 연료분사 신호를 확인할 수 있는 발광다이오드(LED)를 갖춘 것
102	8537 9024 9030	10 10,80 89	피로시험기, 피로시험 제어기 또는 비틀림 내구 시험기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 유압 방식, 자기공명주파수 방식 또는 모터구동 방식으로 시편 또는 구조에 하중을 주어 인장, 굽힘, 압축, 비틀림 또는 시료의 비틀림 피로시험을 수행할 수 있는 것 2. 피로시험기를 제어하고 컴퓨터와 연결할 수 있는 것 3. 자동차용 타이어의 피로수명(내구력) 측정이 가능한 것으로서 속도, 하중 또는 시간조절이 가능한 것
103	8539	41	태양전지 측정기	조사되는 빛(光의) 시간, 공간 균일도 및 스펙트럼 일치도가 국제전기기술위원회(IEC, International Electro-technical Commission)의 2007년 기준 태양전지 시험규격에 따라 클래스 에이(Class A)를 만족할 수 있는 것으로 한정한다.
104	8543 9030	20,70 84,89	신호 발생기, 노이즈 발생기, 시그널 에뮬레이터 또는 주파수 발생기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 평판디스플레이 패널을 구동하기 위한 영상신호를 발생시키는 것 2. 감쇠(減衰)정현파(Sine Curve) 발생용으로서 최대 발생 주파수가 100메가헤르츠 이상인 것 3. 펄스(Pulse) 발생속도가 최대 100피피에스(Pulse Per Second) 이상인 것 4. 입력 채널수가 4개 이상인 것 5. 지피에스(GPS) 신호발생이 가능한 것 6. 펄스 주파수(Pulse Frequency)가 0.1킬로헤르츠(KHz) 이상인 것 7. 최대 주파수가 3기가헤르츠(GHz) 이상인 것 8. AM(Amplitude Modulation) 변조, FM(Frequency Modulation) 변조 또는 무변조 캐리어(CW, Continuous Wave)가 가능한 것 9. 디지털 방송용으로서 트랜스포트 스트림(Transport Stream) 신호출력이 가능한 것 10. 생성 가능한 파형(Waveform)이 4개 이상인 것 11. 임의파(Arbitrary Waveform) 발생이 가능한 것 12. 1헤르츠(Hz) 이하의 저주파 발생이 가능한 것
105 신규	8543	70	방송신호캡처기기	지상파 및 위성방송신호를 수신하여 기록, 재생 및 캡처할 수 있는 것으로 한정한다.
106	8543 9030	70 84,89,	전자부하기 (Electronic Load)	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 전류, 전압 또는 저항의 측정 정도가 ±0.5퍼센트 이하인 것 2. 저항 및 인덕턴스를 부하(Load)하는 것으로 부하 정도가 ±5퍼센트 이하인 것
107	8543 9030 9031	70 39,84, 89 80	정전기 시험기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 최대 발생 정전기 전압이 2킬로볼트 이상인 것 2. 최소 테스트포인트(Test Point) 간격이 500마이크로미터 이하인 것
108	8705 8716 9031	90 40,80 80	타이어 마찰력 시험차량(트레일러를 포함한다)	타이어와 노면 사이의 마찰력을 시험하는 것으로서 견인차량과 트레일러로 구성된 것으로 한정한다.
109 신규	9002	19	디지털 마이크로 현미경	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한다. 1. 211만 화소의 1/1.8인치 CCD 이미지 센서를 가지고 있는 것으로서 총 화소가 1,688(세로) × 1,248(가로)이며, 유효화소가 1,628(세로) × 1,236(가로)이고, 실효화소가 1,600(세로) × 1,200(가로)인 것 2. 배율이 1,000배 이상인 것 3. 3차원 프로파일 구현이 가능한 것
110 신규	9006	30	입자영상유속계	레이저 파워가 500밀리줄(mJ) 이하이고 카메라 해상도가 200만화소 이상인 것으로 한정한다.
111	9006 9025	59,99 19,80	열화상 측정기, 열화상 카메라 또는 가속도 센서 교정기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 초당 30프레임 이상의 처리가 가능한 것 2. 해상도가 640픽셀(Pixel)×480픽셀 이상인 것 3. 적외선을 이용하는것으로 분광범위의 최대값이 10마이크로미터 이상인 것 4. 실 화상과 적외선 화상의 혼합 디스플레이가 가능한 것
112	9010	50	노광기(Stepper)	레이저를 사용하여 감광성 수지를 경화시키고 인쇄회로기판 제작을 위한 이미지를 형성할 수 있는 것으로 한정한다.
113	9012 9022	10 19	이온빔 시험기 또는 전자빔 시험기	이온빔 또는 전자빔을 이용하여 재료의 원소 성분을 정성분석 또는 정량분석할 수 있는 것으로 한정한다.
114	9013 9031	80 80	산업용 내시경	내시경에 장착되는 렌즈 타입이 직시형(Forward)이고, 지원되는 최대 시야각(Field of View)이 120도 이상인 것으로 한정한다.
115	9014	10	관성 측정기	내장된 지피에스와 연동하여 데이터 에러를 자체 처리하는 기능을 가진 장치로서 위치정밀도가 2센티미터 이하이고 속도정밀도가 시간당 0.1킬로미터 이하인 것으로 한정한다.
116	9014	80	수중 초음파 위치 인식 시스템	위치오차가 0.5미터 미만이고, 운용수심이 500미터 이상이며, 작동 반경이 500미터 이상인 것으로 한정한다.
117	9015 9031	10,80 49,80	3차원 측정기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 측정대상물의 형상측정 분해능력이 0.1밀리미터 이상인 것 2. 레이저를 이용한 방식으로서 측정대상물의 형상측정 분해능력이 1마이크로미터 이상인 것 3. 비전스캐닝(Vision Scanning) 방식 또는 광학(Optical) 계측방식을 이용하여 측정 후 3차원 또는 2차원으로 나타낼 수 있는 것 4. X, Y, Z 축의 측정범위가 각각 2,000밀리미터 이상이거나 또는 탐침자(Probe)의 최대 이송속도가 초당 100밀리미터 이상인 것 5. 측정 암(Arm)이 3관절(Axis) 이상인 것으로서 측정정도가 ±0.2 밀리미터 이하인 것
118	9016	00	중량 측정기	재현성(Repeatability)이 0.03밀리그램 이하인 것으로 한정한다.
119	9021 9024 9031	10 80 80	장력계 또는 장력시험기	자동차 브레이크 페달 또는 핸드 브레이크 레버에 장착하여 브레이크 작동력을 측정할 수 있는 것으로 한정한다.
120	9022	12,19	엑스선 측정기, 엑스선 시험기 또는 형광엑스선 분석기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 형광, 회절, 분광 또는 분광광도의 기능이 있는 것 2. 엑스선을 이용한 영상 처리장치로서 디지털에 의한 표시 방식이거나 화상 분석이 가능한 것 3. 엑스선 발생장치(Generator)의 최대 용량이 2킬로와트 이상인 것
121	9022 9024 9031	19 80 49,80	두께 측정기, 표면측정기 또는 휨 측정기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 평판디스플레이, 평판디스플레이용 글래스(Glass), 반도체, 반도체용 마스크, 반도체 부품, 웨이퍼, 웨이퍼 시료, 렌즈웨이퍼, 2차전지박막, 태양전지박막, 연료전지박막, 인쇄회로기판, 적층세라믹콘덴서(MLCC)의 내부전극 또는 광학용 필름 측정기로서 두께, 막질의 두께, 회로 선폭, 입자, 흠집, 단면 상태, 뒤틀림 또는 굴곡 상태의 측정이 가능한 것 2. 굴곡측정용으로서 1천밀리미터 측정 시에 측정 정도가 ±1마이크로미터 이하인 것 3. 전기화학적 방법으로 피막두께 측정이 가능한 것 4. 태양전지 박막두께 측정용으로서 형광법 원리를 이용하는 것 5. 굴곡상태 또는 표면조도(表面照度) 측정이 가능한 것
122 신규	9022	19	대진폭 수평면 동요장치	다음 각호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 좌우동요의 진폭이 최대 1.5미터 이하인 것 2. 좌우동요의 속도가 초당 1.1미터 이하인 것 3. 선수동요의 진폭이 40도(Degree)까지 조절이 가능한 것 4. 선수동요각의 가속도가 초당 20도까지 조절이 가능한 것 5. 구동이 가능한 모형선의 최대길이가 9미터 이하인 것
123	9022 9027 9030	19 50,80 89	분광 분석기, 형광 분석기, 흡광 분석기 또는 에너지 분산형 분광분석기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 시료에 전자빔을 주사하여 방출되는 에너지 중 엑스선을 에너지 준위별(準位別)로 분광시켜 시료의 정성분석 및 정량분석이 가능한 것 2. 컴퓨터제어 방식인 것으로서 최대 주파수가 50킬로헤르츠 이상인 것 3. 분광영역이 110나노미터 이상이거나 또는 60광학채널 이상인 것
124	9022 9027 9031	19,29, 90 30,80 80	성분 분석기 또는 형광엑스선 분석기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 납, 카드뮴, 수은 및 크롬에 대한 정량분석이 가능한 것 2. 구리, 인듐, 갈륨 또는 셀레늄의 조성 분석이 가능하며 필름의 두께를 측정할 수 있는 것 3. 마그네슘, 알루미늄, 규소, 인 또는 황과 같은 경량원소의 성분분석이 가능한 것 4. 금속, 비금속 또는 플라스틱 소재의 성분분석용으로서 파장범위가 400나노미터 이상인 것
125	9022 9027 9031	29 20 80	가스크로마토그래피, 액체크로마토그래피 또는 이온크로마토그래피	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 이동상을 액체, 기체 또는 이온으로 하고, 자외선검출기ㆍ질량분석기 또는 전도도검출기와 연결되거나 불꽃이온화 검출기(FID; Flame Ionization Detector), 열전도도 검출기(TCD; Thermal Conductivity Detector)를 장착하여 혼합물에 대한 정성분석 및 정량분석이 가능한 것 2. 전자포획 검출기(ECD, Electron Capture Detector), 불꽃이온화 검출기(FID, Flame Ionization Detector), 열전도도 검출기(TCD, Thermal Conductivity Detector) 또는 질량분석 검출기(MSD, Mass Spectrometer Detector)를 장착하여 시료의 정성분석 및 정량분석이 가능한 것 3. 측정 정밀도가 측정값의 ±3퍼센트 이내인 것 4. 가스샘플링 밸브시스템(Gas-Sampling Valve System)을 장착한 것
126	9024 9031	10,80 80	경도 시험기, 마모 시험기, 인장 시험기, 크립(Creep) 시험기, 실내마모 시험기 또는 분체특성시험기(Powder Characteristics Tester)	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 비커스(Vickers) 방식, 탐침(探針) 방식, 연필심 방식, 스크래치 방식 또는 쇼어(Shore) 방식인 것 2. 금속 또는 플라스틱 경도 측정용으로서 로크웰(Rockwell) 방식으로 자동측정이 가능한 것 3. 최대 회전속도가 분당 200회 이상인 것 4. 플라스틱, 금속, 주물모래(Resin Coated Sand), 판상엽, 종이, 고무 또는 섬유코드에 대한 시험기로서 인장 시험 또는 크립 시험이 가능한 것 5. 차량의 주행조건을 타이어 단품에 적용하여 마모양상을 측정할 수 있는 것 6. 섬유의 마모 또는 필링 저항성(Anti Pilling)을 시험하기 위한 것으로서 4개 이상의 마모시험판을 동시에 사용할 수 있는 것 7. 분체의 경도, 항장력, 압축성 또는 탄성 성질의 시험용인 것 8. 플라스틱의 뒤틀림 측정용으로 최대 시험하중이 500킬로그램중(kgf)인 것 9. 섭씨 1,100도까지 금속에 대한 크립시험이 가능한 것
127	9024 9031	10,80 80	만능 시험기, 강도 시험기 또는 접착강도 시험기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 자동차 차체 또는 차체 부품 시험용으로서 최대 압축력이 150킬로뉴턴 이상인 것 2. 고분자 재료의 인장, 굴곡, 압축, 전단, 박리 등 일정한 방향으로 시편에 대하여 가해지는 로드(Load) 값을 통한 항복강도와 탄성률을 측정하는 장비로 다음 각 목의 어느 하나에 해당하는 것 가. 적재 용량이 2킬로뉴턴인 것 나. 적재 측정 정확도가 측정치의 ±0.5퍼센트 이하인 것 3. 위치 측정 정확도가 ±0.01밀리미터 이하인 것 4. 재료의 강도 특성 또는 접합강도 특성 측정용으로서 파괴인성, 파열강도 또는 압축강도의 측정이 가능한 것
128	9024 9031	10,80 80	응력 측정기 또는 응력 이완시험기(Stress Relaxation Tester)	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 반도체소자 또는 인쇄회로기판에 접착된 박막, 납볼, 와이어 또는 다이의 응력(應力)을 측정할 수 있는 것 2. 압축하거나 인장시킨 고무 또는 금속의 응력 완화(Stress Relaxation)를 실시간으로 측정할 수 있는 것 3. 평판디스플레이 연구용으로 글라스기판의 금속막, 무기절연막 또는 반도체막의 응력을 측정할 수 있는 것 4. 휴대폰용 터치 스크린 연구용으로서 글라스기판에 가시광선을 조사(照射)하여 응력을 측정할 수 있는 것
129	9024 9027 9031	10,80 80 80	점탄성 측정기, 점도 측정기 또는 레오메타	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 섭씨 영하 5도 이하 또는 영상 20도 이상에서 점도 측정이 가능한 것 2. 섭씨 영하 40도 이상 섭씨 200도 이하의 온도범위에서 유변(流變)특성을 측정할 수 있는 것 3. 연료유 또는 윤활유의 투과성 측정 또는 유동점 측정이 가능한 것 4. 주파수 범위가 100헤르츠 이상 10,000헤르츠 이하인 것
130	9024 9031	80 80	마찰특성 시험기 또는 마찰계수 측정기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 윤활재료의 마찰 특성 측정용으로서 최대 마찰 측정 하중이 75뉴턴 이상인 것 2. 금속재료의 마찰 특성 측정용으로서 최대 마찰 측정 하중이 150뉴턴 이상인 것 3. 회전방식 또는 선형왕복방식으로 마찰시험이 가능한 것으로서 최대 하중이 1뉴턴 이하인 것 4. 휴대용 마찰계수 측정기로서 슬라이딩 방식이며 측정계수가 1.3 이하인 것 5. 노면의 속도와 시험편의 속도를 각각 조절할 수 있고 슬립(Slip)률을 ±95퍼센트까지 조절이 가능한 것 6. 물리적 관성을 이용한 회전방식의 마찰시험이 가능한 것으로 최대 토크용량(Torque Capacity)이 100뉴턴미터 이상일 것
131 신규	9025 8031 9032	19 80 10	그리스적점시험기 (Grease Dropping Point Tester)	상온에서 400도까지 운전하면서 그리스(Grease)가 반고상(Paste) 상태에서 기유가 분리되는 온도를 확인할 수 있는 것으로 한정한다.
132	9025 9031	19 80	열변형시험기	온도 측정 범위가 섭씨 200도 이상인 것으로 한정한다.
133 신규	9025 9031 9032	19 80 10	파워사이클 내구시험장비	전장부품으로 전력을 인가(On/Off)하여 최대 인가 전류가 400암페어 이상 1,200암페어 이하인 것으로 한정한다.
134	9025	80	밀도 측정기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. U자형 튜브 형태의 관을 통하여 고유 진동주기 측정이 가능한 것 2. 입방센티미터(cm3)당 3그램까지 측정이 가능하고 측정가능한 온도가 섭씨 0도 이상 90도 이하이며, 압력을 10바까지 측정할 수 있는 것 3. 자동 점도보상 기능이 있는 것 4. 자동버블 감지기능이 있는 것
135	9025 9031	80 80	차량용 써멀 마네킹(Automotive Thermal Manikin) 또는 기저귀 흡수력 측정용 마네킹	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 차량 실내 공기의 온도, 속도, 상대습도 또는 복사(Radiation) 측정이 가능한 것 2. 수분센서를 포함한 마네킹으로서 분당 10밀리리터 이상의 용액이 주입되고 8시간 이상 반복 주입이 가능한 것
136	9027 9031	10 80	가스누출 탐지기(Leak Detector)	누출된 수소, 헬륨가스 또는 육플루오린화황 가스를 감지하거나 경보할 수 있는 것으로 한정한다.
137	9027 9031	10 80	가스 분석기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 염화수소, 질소산화물, 이산화황, 삼산화황, 일산화탄소, 이산화탄소, 산소, 스모크(Smoke) 또는 플라스마의 농도를 측정할 수 있는 것 2. 최고 섭씨 300도 이상의 온도에서 가스 중 수소 흡착량을 측정할 수 있는 것 3. 일산화탄소, 이산화탄소, 탄화수소, 질소산화물, 산소, 수소, 메탄 또는 황산화물 중 2가지 이상을 동시에 분석할 수 있는 것 4. 3가지 이상의 가스를 동시에 분석 또는 측정할 수 있는 것 5. 풀스케일(Full Scale)시 재현성이 ±1퍼센트 이하인 것 6. 자동차 연구용으로서 희석터널(Dilution Tunnel) 또는 정량채집기(Constant Volume Sampler) 장치와 연결⋅구성되어 있는 것
138	9027	10	미립자 측정기 또는 미립자 분석기	대기 중 또는 클린룸설비 등에서 공기청정도를 평가하는 공기미세입자분석기로서 입자크기가 0.004마이크로미터 이상 10마이크로미터 이하인 영역의 크기분석이 가능한 것으로 한정한다.
139 신규	9027 9031	10 49,80	앵글엔코더(Crank Angle Encorder)	엔진 구동시 캠 및 크랭크의 앵글을 0.1도까지 측정할 수 있고, 측정 가능 회전수가 분당 1회 이상 3,000회 이하인 것으로 한정한다.
140	9027 9031	10,50, 80 80	용융지수 측정기 또는 난연측정기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 플라스틱 소재의 유동성, 흐름성 또는 점성을 측정하는 것으로 시료의 가열온도가 최대 섭씨 250도 이상인 것 2. 플라스틱 물질의 가연성을 측정할 수 있는 것
141	9027 9031	10,80 80	원소 분석장치	이산화탄소, 탄소, 황, 산소, 수소, 질소 또는 염소를 분석할 수 있는 것으로 한정한다.
142	9031	49,80	입자상물질 측정기 또는 입자크기 측정기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 에프아이디(FID, Flame Ionization Detector) 방식으로서 실시간(Real Time) 측정이 가능한 것 2. 배기가스의 입자상(粒子狀) 물질을 측정하는 것으로서 공기와 배기가스의 희석비율 오차 정도가 ±5퍼센트 이하인 것 또는 희석터널의 지름이 30밀리미터 이상인 것
143 신규	9027	30	유도결합플라스마방출분광계	유도결합 플라스마를 이용하고, 측정대상 물질(원소)의 파장을 검출할 수 있는 것으로서 원소분석이 가능한 것으로 한정한다.
144	9027	30	적외선 분광기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 적외선 또는 근적외선을 이용하여 폴리머의 기능 분석이 가능하도록 검출기 및 분석기를 갖춘 것 2. 신호대비 잡음비가 1:3만5천 알엠에스(RMS, Root Mean Square)인 것
145	9027	30	전광속 측정 시스템(적분반구)	지름 300밀리미터 이상의 적분반구와 분광복사기(Spectroradiometer)를 사용하여 전광속 및 색좌표를 측정할 수 있는 것(측정시료 자기 흡수 보상 시스템을 포함한다)으로 한정한다.
146	9027	30	회절기	전자후방 산란용으로서 다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 최대 이미지 해상도가 1600×1200픽셀이고, 12비트 씨씨디(CCD, Charge Coupled Device) 카메라가 부착되어 있는 것 2. 초당 최대 170프레임을 측정할 수 있는 것 3. 경사도가 ±4.5도인 것
147	9027	30	핵자기 공명장치	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 고성능 액체 크로마토그래피 칼럼 방식인 것 2. 이동상을 액체로 하고, 핵자기 공명장치 또는 자외선검출기와 연결되어 혼합물에 대한 정성분석 및 정량분석이 가능한 것 3. 주파수가 15메가헤르츠 또는 500메가헤르츠인 것
148	9027 9031	50,80 80	열중량분석기, 열기계분석기 또는 시차주사 열량계	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 디에스시(DSC, Differential Scanning Calorimetry) 또는 티지에이(TGA, Thermogravimetric Analyzer) 방식인 것 2. 티엠에이(TMA, Thermomechanical Analyzer)방식으로 시간, 온도 또는 시료에 가해지는 힘의 변화에 따른 선형 또는 면적 변화를 측정하는 것으로서 온도 범위가 섭씨 영하 100도 이상 섭씨 400도 이하인 것
149	9027	50,80	휘도계 또는 색도계	휘도(輝度) 또는 색좌표의 측정이 가능한 것으로 한정한다.
150	9027 9031	80 80	긁힘성 시험기 (Scratch Tester)	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 물리적 또는 화학적으로 증착된 박막과 모재(母材) 사이의 밀착특성을 평가하는 것으로서 최대 하중이 100뉴턴 이상인 것으로 한정한다. 2. 시험 중 5뉴턴, 10뉴턴 또는 15뉴턴의 하중을 가할 수 있고, 시험속도가 분당 950밀리미터 이상 1,050밀리미터 이하인 것
151	9027 9030 9031	80 84,89 80	소음계 또는 소음 분석기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 분석 가능한 최대 주파수가 30킬로헤르츠 이하인 것 2. 소음 측정범위가 30데시벨 이상인 것 3. 최대 주파수 측정범위가 1.5기가헤르츠 이상인 것 4. 계측된 시간신호(Time Signal)를 저장하는 기능이 있는 것
152신규	9027	80	회융점분석기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 섭씨 400도에서 1,500도까지 온도 조절이 가능한 것 2. 온도 정확도가 순도 99퍼센트 이상의 금 와이어로 측정했을 때 섭씨 1,064±5도 이내인 것
153	9028	20	유량계(流量計)	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 적산(積算) 유량 측정이 가능한 것으로서 재현성이 ±0.5퍼센트 이하이거나 측정값에 따라 자동으로 유량을 제어할 수 있는 것 2. 유량 제어값이 분당 80그램 이상이며 자동으로 작동되는 것
154	9030 9031	31,32, 33,39, 84,89 80	태양광 시뮬레이터 세트기기	태양광 모의 성능 시험을 할 수 있으며 각종 부하장비가 세트(Set)로 있는 것으로 한정한다.
155	9030	33,39	스펙트럼 분석기	최대 측정 주파수가 9킬로헤르츠 이상이거나 측정 주파수의 분해능력이 1헤르츠 이상인 것(휴대용 제품도 포함한다)으로 한정한다.
156	9030	33,39, 84,89	신호 분석기, 신호소스분석기 또는 신호 측정기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 시디엠에이(CDMA), 지에스엠(GSM), 지피에스, 더블유시디엠에이(WCDMA), 에이치에스디피에이(HSDPA), 엘티이(LTE), 글로나스(Glonass) 또는 에이치에스유피에이(HSUPA)의 신호 측정이 가능한 것 2. 디지털 방식으로서 측정 정도가 ±3퍼센트 이하인 것 3. 측정 정도가 ±0.5데시벨(dB) 이하인 것 4. 분석데이터의 저장 및 출력이 가능한 것 5. 최대 입력 주파수가 30킬로헤르츠 이상이거나 주파수 범위가 3헤르츠 이상인 것 6. 무선주파수(RF) 신호의 특성 측정 및 분석이 가능한 것 7. 신호 소스원으로부터 인가되는 신호의 노이즈(Noise)를 측정 가능한 것 8. 주파수의 스펙트럼 측정이 가능한 것
157	9030	33,39	저항 측정기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 전기기기 또는 전자기기의 고저항 측정용으로서 20테라옴(TΩ) 이상 측정이 가능하거나 저저항 측정용으로서 1밀리옴(mΩ) 이하 측정이 가능한 것 2. 반도체(복합구조칩을 포함한다), 평판디스플레이 또는 2차 전지 연구용으로서 웨이퍼박막, 글라스기판박막 또는 분체(粉體)의 저항을 측정할 수 있는 것
158	9030	33,39, 84,89	전력 분석기 또는 전력 측정기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 컴퓨터제어 방식으로 전력량계의 소요 전력을 측정 및 분석하는 것으로서 입력채널 수가 3개 이상인 것 또는 측정 정도가 ±0.05퍼센트 이하인 것 2. 전력측정기로서 최대 측정 주파수가 100킬로헤르츠 이상인 것
159	9030	33,39, 84,89	전압변동 시험기, 과도전압 시험기 또는 내전압측정기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 과도전압 시험기로서 발생 가능한 최대 과도전압(Surge)이 70볼트 이상인 것 2. 전압변동 시험기로서 채널수가 2개 이상인 것 3. 내전압측정기로서 최대 출력전압이 10킬로볼트 이상인 것
160	9030 9031	33,39, 84 80	전지수명 측정기, 전지성능 측정기 또는 배터리제어기용시뮬레이터	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 연료전지 또는 차량용 전지팩의 성능을 측정할 수 있는 것 2. 휴대폰용 배터리의 소모전류를 측정할 수 있는 것 3. 2차전지 또는 연료전지의 충전 또는 방전 시험이 가능한 것 4. 자동차 배터리 연구용으로 셀전압 제어 및 실차 환경의 신호를 생성하여 전지제어시스템(BMS, Battery Management System)의 기능 검증이 가능한 것
161	9030	33,39, 84,89	주파수 측정기 또는 주파수 분석기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 최대 측정 주파수가 1메가헤르츠 이상인 것 2. 에프에프티(FFT, Fast Fourier Transformation) 분석이 가능하거나 데이터신호의 입력 또는 저장이 가능한 것
162	9030	33	초고압 케이블 시험용 단말기	초고압 케이블의 상용주파 내전압시험 또는 임펄스 내전압시험이 가능한 것으로 한정한다.
163	9030	39	대용량 교류전압 시험기 또는 대용량직류전압 시험기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 600킬로볼트, 3암페어 이상의 교류전압을 밸브(Valve) 또는 밸브타워(Valve Tower)에 인가하여 절연성능을 평가할 수 있는 것 2. 500킬로볼트, 110밀리암페어(mA) 이상의 직류전압을 밸브 또는 밸브타워에 인가하여 절연성능을 평가할 수 있는 것
164	9030 9031	39,84 80	도통단락시험기(Open-Short Tester)	인쇄회로기판을 프로브(Probe)를 이용하여 전기적 결함을 자동으로 검출하는 것으로 한정한다.
165	9030	39	웨이브 폼 모니터(Wave Form Monitor)	비디오신호의 진폭 또는 시간 측정용으로서 입력채널수가 2개 이상인 것으로 한정한다.
166	9030	39,84, 89	전기적 물성(物性) 측정기 또는 임피던스(Impedance) 측정기(다채널전기화학분석장비(Multi-Channel Electrochemical Analyzer System)를 포함한다)	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 유전율(誘電率), 정전기량, 체적저항(體積抵抗), 절연파괴(絶緣破壞), 표면저항, 표면전하, 정전용량, 유전정접(誘電正接) 또는 역률(力率) 측정용인 것 2. 수동소자, 연료전지, 태양전지, 반도체 또는 2차전지의 임피던스 측정용인 것 3. 반도체, 2차전지, 연료전지 또는 태양전지 연구용으로서 전기화학적 특성 또는 반응을 측정할 수 있는 것 4. 측정 파라미터(Parameter)에 유전율과 유전손실이 포함되어 있는 것 5. 최대 8개의 독립된 주파수 응답 분석기(FRA, Frequency Response Analyzer) 연결이 가능한 것
167	9030	39,89	전자파 측정기, 전자파 측정기 노이즈 소스 또는 전자파 내성시험기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 최대 1기가헤르츠 이상의 주파수를 측정할 수 있는 것 2. 방사성(Radiated) 전자파 내성(EMS, Electromagnetic Susceptibility)시험기로서 10킬로헤르츠 이상의 전류를 인가할 수 있는 것 3. 10킬로헤르츠 이상의 간섭주파수 측정이 가능한 것 4. 고조파 또는 플리커(Flicker) 측정이 가능한 것
168	9030 9031	82,83, 84,89 80	네트워크 분석기, 회로망 분석기 또는 임피던스 분석기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 최대 측정 주파수가 100메가헤르츠 이상인 것 2. 동축케이블 연구용으로서 100메가헤르츠 이상의 고주파 대역에서 선로의 전기적 특성을 측정할 수 있는 것 3. 포트수가 2개 이상인 것으로 다음 각 목의 어느 하나에 해당하는 것 가. 작동 주파수가 40기가헤르츠 이상인 것 나. 주파수 범위가 5킬로헤르츠 이상인 것 4. 고주파를 반도체 소자에 인가하여 소자의 주파수 특성 및 임피던스(Impedance)를 분석할 수 있는 것
169	9030 9031	84,89 80	논리회로 분석기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 아날로그 신호를 측정할 수 있는 것으로 한정한다. 2. 최대 측정 주파수가 100메가헤르츠 이상인 것
170	9030 9031	84,89 80	데이터 수집기 또는 연속데이터 분석기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 채널의 수가 1개 이상인 것 2. 가속도 또는 속도의 동적 신호를 계측, 저장 및 분석할 수 있는 것 3. 유기발광다이오드기판에 증착되는 막의 증착속도 또는 증착두께 데이터를 수집할 수 있는 것 4. 충돌시험 자동차에 탑재가 가능하고 100지(G) 이상의 중력가속도에 견딜 수 있는 구조인 것 5. 2차전지용으로서 통신신호의 확인 또는 분석이 가능한 것 6. 디지털 방식 또는 컴퓨터제어 방식인 것으로서 분석 기능이 있는 것 7. 1개 이상의 채널을 통해 차량의 속도 및 가속도 변화와 각종 센서에서의 데이터를 실시간으로 수집하여 분석 가능한 것
171	9030 9031	84,89 80	모의 시험기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 차량신호를 모사(模寫)하여 하이브리드 차량 제어기에 전달하는 것으로서 시스템제어장치의 처리속도가 300메가헤르츠 이상인 것 2. 티티피(TTP, Time Triggered Protocol) 방식 시스템의 장애(Disturbance)현상을 시뮬레이션할 수 있는 것 3. 자동차 배기가스의 모의시험 재현이 가능한 것으로서 가스발생기 및 반응기와 연결이 가능한 것 4. 자동차용 배터리의 충전 및 방전 모의시험을 할 수 있는 것 5. 채널 에뮬레이션(Channel Emulation)이 가능한 것 6. 피시험체에 대한 낙뢰 시뮬레이션이 가능한 것 7. 위성신호를 발생시켜 위치추적을 위한 모의시험 재현이 가능한 것 8. 반도체 회로의 인서킷 에뮬레이션(In Circuit Emulation) 또는 시뮬레이션이 가능한 것
172	9030	84,89	전자파 흡수율 측정기	전자파 흡수율(SAR, Specific Absorption Rate)의 성능측정과 미국 연방통신위원회(FCC, Federal Communications Commission) 또는 유럽연합 적합성(CE, Conformity to European) 인증에 따른 전자파 흡수율의 성능검증이 가능한 것으로 한정한다.
173	9030 9031	84,89 80	커브 트레이서 (Curve Tracer)	반도체의 전류-전압 곡선(I-V Curve) 측정이 가능한 것으로서 최대 전류 용량이 400암페어 이상인 것으로 한정한다.
174	9030	89	반사전자검출기	주사전자현미경에서 반사된 전자를 검출하고 검출된 반사전자를 형상화시킬 수 있는 것으로 한정한다.
175	9030 9031	89 49,80	성능 시험기 또는 성능 측정기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 자동차용 브레이크 부품의 성능시험이 가능한 것 2. 광학렌즈의 해상도를 측정하는 것으로서 변환전달기능(MTF, Modulation Transfer Function)의 측정이 가능한 것 3. 반도체, 인쇄회로기판, 평판디스플레이, 평판디스플레이용 장비 또는 태양전지의 전기적, 물리적 또는 광학적 특성을 측정하거나 검사하는 것
176	9030	40,89	송신 성능시험기 또는 방사성능 테스트 시스템	다중입출력(MIMO, Multiple Input Multiple Output) 또는 엘티이(LTE, Long Term Evolution) 통신방식의 안테나 방사성능 측정이 가능한 것으로 한정한다.
177	9030	89	오디오분석기	채널수가 2개 이상인 것으로 한정한다.
178	9030	89	이온에너지 측정기(Ion Energy Analyzer)	이온에너지의 측정이 가능한 것으로서 측정 범위가 300일렉트론볼트(eV) 이상인 것으로 한정한다.
179	9030	89	전위차적정계(Potentiometric Titrator) 또는 제타포텐셜 측정기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 제타전위(Zeta Potential)를 측정할 수 있는 것 2. 고형분 농도가 50퍼센트 이상이고, 0.053마이크로미터 이상 3마이크로미터 이하의 사이즈 분포를 갖는 라텍스의 표면 전위 측정이 가능한 것 3. 분해능(Resolution)이 0.001pH를 가지는 것
180 신규	9030	89	표면전위측정장치	표면전위의 측정속도가 초당 30밀리미터 이상인 것으로 한정한다.
181 신규	9031	10	균형측정기	균형(Balance)량 및 균형의 각도측정이 가능한 것으로서 측정회전수가 분당 1만회 이상 4만회 이하에 해당하는 것으로 한정한다.
182	9031	49	간섭계 (Interferometer)	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 간섭원리를 이용하여 광학렌즈의 수차(收差, Aberration)를 측정하는 것 2. 측정 정밀도가 0.1프린지(Fringe)인 것
183	9031	49	광디스크 측정장치 또는 편광계	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 블루레이 디스크(Bluray Disc) 또는 광픽업(Optical Pick-up)신호의 특성을 측정할 수 있는 것 2. 파장이 2천나노미터 이하인 레이저를 비접촉식으로 측정할 수 있는 것 3. 광디스크의 동(動) 특성 및 정(靜) 특성을 측정할 수 있는 것
184	9031	49	굴절률 측정기	금속, 플라스틱 또는 글라스 성형품의 복굴절 측정이 가능한 것으로 반복 정밀도가 0.5나노미터 이하인 것으로 한정한다.
185	9031	49	셔터 측정기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 카메라 셔터(Shutter) 속도의 정확도가 ±1마이크로초 이내인 것 2. 반사광검출방식을 채용한 디지털 일안 반사식 카메라(DSLR, Digital Single-Lens Reflex Camera)용인 것
186 신규	9031	49	스캐너검사시스템 (Scanner Measurement)	면 수직도, 지터(Jitter) 및 전류 측정이 가능한 것으로 한정한다.
187	9031	49	윤곽투영기 (Profile Projector)	스크린 사이즈(Screen Diameter)가 305밀리미터 이상인 것 또는 스테이지 사이즈(Stage Size)가 250밀리미터(가로)×150밀리미터(세로) 이상인 것으로 한정한다.
188	9031	49,80	진동계, 진동 시험기 또는 소음진동 측정기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 운송과정에서 발생할 수 있는 진동이 제품에 미치는 영향을 분석할 수 있는 것 2. 주파수범위가 10킬로헤르츠 이상이거나 입력채널수가 10개 이상인 것 3. 사인(Sine) 또는 랜덤(Random) 진동시험이 가능한 것으로서 최대 주파수가 200헤르츠 이상인 것 4. 진동변위 측정시 접촉식 또는 비접촉식으로 신호를 측정할 수 있는 것 5. 물체를 진동시켜 물체의 고유특성을 찾아내는 것
189	9031	49,80	접촉각 측정기, 형상 측정기, 3차원 스캐너(3D Scanner), 3차원프린터(3D Printer), 진원도 측정기 또는 비접촉 측정기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 접촉각 측정 허용오차가 ±0.1도 이하인 것 2. 자동 포커스 기능을 가진 것 3. 측정 정도 또는 분해능(Resolution)이 ±1마이크로미터 이하인 것 4. 비전스캐닝(Vision Scanning) 방식 또는 광학(Optical) 계측방식을 이용하여 측정 후 3차원 또는 2차원으로 나타낼 수 있는 것 5. 자동차 엔진부품의 형상측정용으로서 분해능력이 0.1마이크로미터까지 가능하며, 표시정확도가 ±1.81마이크로미터까지 측정할 수 있는 것 6. 진원도의 정확도가 0.0001마이크로미터 이상인 것 7. 최대 측정사이즈가 바깥지름 500밀리미터 이상, 안지름 500밀리미터 이상 또는 깊이 85밀리미터 이상인 것 8. 자동차용 배터리 연구용으로 사전설계된 3차원(3D) 도면을 바탕으로 목업(Mock-Up) 제작이 가능한 것
190	9031	49,80	파티클 카운터 (Particle Counter)	레이저를 이용하여 장비 또는 클린룸(Clean Room) 내의 먼지 또는 미립자를 측정할 수 있는 것으로 한정한다.
191 신규	9031	49,80	평활도측정기 (Surface Wave Analysis)	도장 표면의 미세굴곡 측정이 가능한 것으로 한정한다.
192	9031	80	굴곡도 측정 시스템	초음파를 대상 재료에 입사(入射)시켜 기공 굴절도(Tortuosity)를 산출하는 것으로 한정한다.
193	9031	80	기공도 측정ㆍ분석기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 2차전지 또는 태양전지 연구용으로서 기공도 측정이 가능한 것 2. 기공율, 공극 크기(Pore Size) 분포도, 비표면적, 흡수율, 투과율, 압축률 중 1가지 이상 분석이 가능한 것
194	9031	80	기어측정기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 기어의 피치(Pitch), 나선각 및 흔들림의 측정이 가능한 것 2. 기어 치형의 형상 측정이 가능한 것으로서 모듈이 0.5밀리미터 이상 측정 가능한 것
195	9031	80	내후성시험기(Weather Meter)	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 제논램프를 광원으로 사용하고, 광량 및 온도 제어가 가능한 것 2. 수직형 발광 금속램프(Metaling Lamp)를 광원으로 사용하는 것
196	9031	80	노면 재현 시험기 (Roller Test Bench)	특정 노면 조건을 재현하여 자동차를 주행 시험할 수 있는 장치로서 시속 200킬로미터 이상으로 구동이 가능한 것으로 한정한다.
197	9031	80	단차 측정기	단차가 있는 박막을 스타일러스로 스캔하여 두께를 측정하는 것으로서 평판디스플레이의 박막 두께 방향 해상도가 1옹스트롱(Å) 단위 이하이고, 두께 측정 범위가 최대 550마이크로미터 이내이며, 측정 가능한 시료의 지름이 최대 6.2인치 이내인 것으로 한정한다.
198	9031	80	동작측정기	인간 또는 동물 등의 동작이나 움직임을 측정할 수 있는 것으로 한정한다.
199	9031	80	동적기계분석기(DMA)	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 섭씨 영하 100도 이상 섭씨 500도 이하의 온도 범위에서 측정 가능한 것 2. 하중 범위가 0.0001뉴턴 이상 18뉴턴 이하인 것 3. 주파수 범위가 0.01헤르츠 이상 200헤르츠 이하인 것
200	9031	80	레이저 스캐너 거리측정 시스템	각도 분해능력이 1도 이하인 것으로 한정한다.
201	9031	80	방수시험기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 최대 측정압력이 0.05메가파스칼 이상인 것 2. 공기가압 방식에 의해 방수검사가 가능한 것
202	9031	80	부도체전압측정기	부도체의 전압을 측정할 수 있는 것으로서 250볼트 이하까지 측정이 가능한 것으로 한정한다.
203	9031	80	에어백 시험기 또는 에어백센서 시험기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 컴퓨터제어 방식인 것으로서 충돌 재현 가속도가 100중력가속도 이상인 것 2. 에어백 전개 시점을 조절하는 것으로서 전개 지연시간이 최대 1천밀리초 이상인 것 3. 5밀리초 내에 350밀리바(mbar) 이상의 압력 발생이 가능한 것
204	9031	80	연료분사 시험기	자동차 연료분사시스템(Fuel Injection System) 시험용으로서 인젝터(Injector) 또는 커먼레일(Common Rail)을 장착하여 시험할 수 있는 것으로 한정한다.
205	9031	80	연료소비량 측정기	자동차 엔진에서 소모되는 연료량을 측정하는 것으로서 중량측정 방식 또는 부피측정 방식인 것으로 한정한다.
206	9031	80	연소 시험기	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 자동차 엔진 내부의 연소 상태를 시험 및 분석할 수 있는 것 2. 선박 및 육상 발전용 엔진의 내부 연소상태를 시험 또는 분석할 수 있는 것
207	9031	80	오토콜리미터(Autocolimeter)	렌즈 또는 렌즈어레이(Lens Array)의 편심 또는 광축(光軸)을 측정할 수 있는 것으로 한정한다.
208	9031	80	온도 또는 전압 교정기	온도 교정 정도가 ±0.1도 이하이거나 전압 교정정도가 ±5밀리볼트 이하인 것으로 한정한다.
209	9031	80	6분력계	자동차 또는 자동차 부품의 6분력(分力)을 측정하는 것으로서 각각의 계측범위가 5킬로뉴턴 이상인 것으로 한정한다.
210	9031	80	입자수 측정기	세제곱센티미터(㎤) 당 최대 만개 이상의 입자수(Particle) 측정이 가능한 것으로 한정한다.
211 신규	9031	80	장흐름 분류기(Field Flow Fractionation)	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 폴리머(Polymer)의 질량이 104 돌턴(Da) 이상 109 돌턴이하인 것 2. 나노입자의 크기가 1나노미터 이상 10마이크로미터 이하인 것 3. 적용가능한 용매가 유기용매 또는 수용성 용매인 것
212	9031	80	차량거동 측정기	롤 또는 피치 측정이 가능한 것으로 한정한다.
213 신규	9031	80	차량냉각팬	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 실제 차량 속도와 동일하게 풍속을 재현하는 것 2. 풍속범위가 시간당 최고 120킬로미터이고 허용오차 범위가 시간당 ±10킬로미터인 것 3. 토출구에서 풍속이 균일하고 허용오차는 10퍼센트인 것
214 신규	9031	80	타이어⋅휠 평가기 (Tire Wheel Evaluator)	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 타이어의 방사상 방향 힘의 진동(RFV, Radial Force Variation)을 측정하는 것 2. 타이어의 1차에서 10차까지 방사상 방향 조화진동(Radial Harmonic) 또는 횡방향 조화진동(LFV, Lateral Force Variation)을 측정하는 것 3. 타이어의 원뿔성향(Conicity)을 측정하는 것
215	9031	80,90	토크 측정기 또는 토크센서	다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. 1. 측정 정도가 ±0.5퍼센트 이하인 것 2. 스트레인 게이지(Strain Gage)를 사용하는 것 3. 최대 측정 토크가 49뉴턴미터 이상인 것
216	9031	80	통기도 측정기	공기 투과성을 측정하는 기기로서 최대 측정 범위가 초당 500세제곱센티미터 이상인 것으로 한정한다.
217	9031	80	투습도 시험기	투습도(透濕度)를 측정하는 장비인 것으로 한정한다.
218 신규	9031	80	평탄도측정기	온도 변화에 따른 신뢰성 측정이 가능한 것으로 온도 변화의 폭이 섭씨 영하 50도에서 영상 150도까지인 것으로 한정한다
219	9031	80	프로브카드 분석기(Probe Card Analyzer)	프로브카드의 평탄도와 정렬도를 측정할 수 있는 것으로 한정한다.
220	9032	10,89	온습도 조절기	평판디스플레이 연구용으로서 테스트 체임버(Test Chamber) 내의 온습도 조절이 가능한 것으로 한정한다.
			전조 다이스 (Rolling Dies)	<삭제>
			유압 공급장치	<삭제>
			추출장치	<삭제>
			증류기	<삭제>
			저온 화학흡착 측정기	<삭제>
			정밀 캘린더기(Precision Calender)	<삭제>
			유기용매 정제장치	<삭제>
			연료공급장치	<삭제>
			진동식 원료 이송장비	<삭제>
			키스톤기(Keystone Machine)	<삭제>
			CNC전조기(외측)	<삭제>
			자동 이물 검사기	<삭제>
			프레임 조립기	<삭제>
			화학약품 공급기	<삭제>
			고온항온기 수퍼 템프(Super Temp) 오븐	<삭제>
			정량 공급기	<삭제>
			밸브	<삭제>
			분로 저항 제거기	<삭제>
			원자층 증착장치 또는 직렬식 화학습식장치	<삭제>
			정전 척(Electrostatic Chuck)	<삭제>
			유기발광다이오드 증착원	<삭제>
			고체산화물 연료전지	<삭제>
			중저온 열회수 발전기	<삭제>
			전원안정화장치	<삭제>
			마이크로파 시료분해장치	<삭제>
			경화기	<삭제>
			오존 발생기	<삭제>
			스위칭매트릭스	<삭제>
			디스퍼그레이더(Dispergrader)	<삭제>
			화상분석시스템	<삭제>
			전자탐침 미소(微少) 분석기	<삭제>
			지진기록계	<삭제>
			수분 측정기	<삭제>
			저울 또는 정밀저울	<삭제>
			테이버 강성시험기 (Taber Stiffness Tester)	<삭제>
			열전도도 측정기	<삭제>
			수분함량 측정기	<삭제>
			압력측정기	<삭제>
			가스셀(Gas Cell)	<삭제>
			투과율계	<삭제>
			라만(Raman) 분광기	<삭제>
			레이저 간섭계	<삭제>
			유도결합플라즈마 질량분석기	<삭제>
			열안정성시험기	<삭제>
			수세내수도 시험기(Water Washout Tester)	<삭제>
			연자성 측정 장비	<삭제>
			유체 공극율 측정계	<삭제>
			대기압 관 이온화 장치	<삭제>
			접지 도통 시험기(Earth Continuity Tester)	<삭제>
			후방산란 측정기	<삭제>
			공칭 동작 셀 온도 측정기	<삭제>
			막 전도도 측정기	<삭제>
			임펄스노이즈시험기	<삭제>
			자기적 성능 평가장치	<삭제>
			분광감도 측정기	<삭제>
			열저항 측정기 (Thermal Resistance Tester)	<삭제>
			마이크로프로세서 개발기	<삭제>
			고전압 전기 설비 진단 시스템	<삭제>
			비구면 측정기	<삭제>
			아이트래킹 시스템	<삭제>
			헤드마운트 디스플레이	<삭제>
			조임력 측정기(Pinch Force Sensor)	<삭제>
			가속도계 센서 교정기	<삭제>
			피막두께 측정기	<삭제>
			경사계	<삭제>
			공기회전력 측정기	<삭제>
			오일소모 측정기	<삭제>
			베어링 실링 시험기(Bearing Sealing Tester)	<삭제>
			운송환경시험기	<삭제>
			유동지수측정기	<삭제>
			지반원심모형시험기 또는 지반원심모형시험용 지진모사장치	<삭제>
			초음파탐상기	<삭제>
			회전증발 농축장치	<삭제>
			모형선 자항(自航) 동력계	<삭제>