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목차
적부심사 제2003-088호 2003-08-30
과세전적부심사 결정서
적부심사 제2003-086호 2003-08-07
과세전적부심사 결정서
적부심사 제2003-087호 2003-08-07
과세전적부심사 결정서
적부심사 제2003-061호 2003-07-16
과세전적부심사 결정서
적부심사 제2003-019호 2003-07-16
과세전적부심사 결정서
적부심사 제2003-025호 2003-07-16
과세전적부심사 결정서
적부심사 제2002-175호 2003-06-30
과세전적부심사 결정서
적부심사 제2002-152호 2003-06-12
과세전적부심사 결정서
적부심사 제2002-176호 2003-06-12
과세전적부심사 결정서
적부심사 제2003-020호 2003-06-12
과세전적부심사 결정서
적부심사 제2003-023호 2003-06-12
과세전적부심사 결정서
적부심사 제2003-011호 2003-06-12
과세전적부심사 결정서
적부심사 제2002-139호 2003-05-24
과세전적부심사 결정서
적부심사 제2002-160호 2003-05-24
과세전적부심사 결정서
적부심사 제2002-090호 2003-05-24
과세전적부심사 결정서
적부심사 제2003-006호 2003-05-24
과세전적부심사 결정서
적부심사 제2002-135호 2003-02-13
과세전적부심사 결정서
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판례∙예규
제     목 형상측정기의 관세감면대상규격(측정정도 : 1㎛ 이하)중 측정정확성(1.5㎛ 초과)은 부합되지 아니하고, 탐촉정확성(0.6∼0.9㎛)만 충족되는 경우에 관세감면은 가능한가?
구     분 관세 47000-8 (결정일자 : 1997-01-03)　
내     용 [질의] 형상측정기의 관세감면대상규격(측정정도 : 1㎛ 이하)중 측정정확성(1.5㎛ 초과)은 부합되지 아니하고, 탐촉정확성(0.6∼0.9㎛)만 충족되는 경우에 관세감면은 가능한가?

[답변] 관세감면대상으로 볼 수 없음
관세감면규칙상 『측정정도가 1마이크로미터(㎛)』라 함은 모든 형태의 측정정도가 해당되어야 하는 것이므로, 일부 규격만 관세감면규격에 해당하는 경우에는 관세감면대상으로 볼 수 없습니다.(관련규정 : 관세법 제90조제1항제5호, 관세법시행규칙 제37조 제4항)
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등록정보 2006년 1월 16일 월요일

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