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[결정요지]
쟁점물품은 모노리식 IC와 IMC가 결합된 형태로, IMC가 전기적으로 절연되어 있고 자기를 모아주는 역할을 하므로 이를 모노리식 IC로 보기는 어려운 점, 그렇다면 쟁점물품은 그 기능에 따라 해당 호에 분류하여야 할 것인데, 쟁점물품은 표면에 인가된 자속의 세기를 감지하여 비접촉 방식으로 360도 절대 각도를 측정하는 등 제000호에서 말하는 측정기능을 수행하는 것으로 보이는 점 등에 비추어 쟁점물품이 HSK 제000호에 분류된다고 보아 청구법인의 경정청구를 거부한 처분은 잘못이 없음
[주 문]
심판청구를 기각한다.
[이 유]
1. 처분개요
가. 청구법인은 2016.10.4.부터 2017.4.7.까지 벨기에 소재 OO외 10건으로 POSITION SENSOR IC(모델명 OO이하 "쟁점물품"이라 한다)를 수입하면서 그 품목번호를 모노리식 집적회로가 분류되는 HSK 제8542.39-1000호(관세율 0%)로 신고하였고, 처분청은 이를 수리하였다.
나. OO세관장은 2019.2.8. 청구법인에게 쟁점물품의 품목번호 오류에 관한 정보를 제공하였고, 이에 따라 청구법인은 2019.2.28. 쟁점물품의 품목번호를 HSK 제9031.80-9099호(관세율 8%)로 변경하면서 세율차이에 해당하는 관세 OO수정신고·납부하였다.
다. 청구법인은 쟁점물품의 품목번호가 종전 수입신고하였던 HSK 제8542.39-1000호에 해당한다고 보아 2019.9.5. 위 수정신고·납부한 관세 등을 환급하여 달라는 취지의 경정청구를 하였으나, 처분청은 2019.11.1. 이를 거부하였다.
라. 청구법인은 이에 불복하여 2020.1.22. 심판청구를 제기하였다.
2. 청구법인 주장 및 처분청 의견
가. 청구법인 주장
쟁점물품은 모노리식 집적회로로 분류되어야 한다.
관세율표의 해석에 관한 통칙 1은 "법적인 목적상 품목분류는 각 호의 용어와 관련 부나 류의 주에 따라 결정"한다고 규정하고 있고, 관세율표 제85류 주 제8호는 "이 주에서 규정한 물품을 분류하는 경우 제8541호 또는 제8542호는, 제8523호의 경우를 제외하고, 특히 그 기능으로 보아 해당 물품을 포함하는 것으로 해석되는 이 표의 다른 어느 호보다 우선한다"고 규정하고 있으므로 쟁점물품이 제8542호에 분류되는지 여부를 먼저 검토하여야 하고, 제8542호로 분류될 수 없는 경우에만 다른 호(제9031호)로의 분류 가능성을 검토하여야 한다.
제8542호의 용어는 "전자집적회로"이고, 관세율표 제85류 주 제8호는 "전자집적회로"를 "모노리식 집적회로, 하이브리드 집적회로, 복합구조칩 집적회로를 말한다"고 하면서 그 중 "모노리식 집적회로"에 관하여 "회로소자[다이오드, 트랜지스터, 저항기, 축전기, 인덕턴스(inductance) 등]가 하나의 반도체 재료나 화합물반도체[예 : 도프된(doped) 실리콘, 비소화합물(gallium arsenide), 실리콘게르마늄, 인화인듐(indium phosphide)]의 내부나 표면에 한 덩어리 상태로 집적되어 있으며, 분리가 불가능하도록 결합된 회로"라고 정의하고 있다.
위와 같은 정의의 취지는 반도체 일괄 공정으로 제조된 IC의 경우에는 다양한 회로소자로 구성되어 여러 가지 기능을 수행하더라도 그에 관계없이 '모노리식 IC'로 분류하겠다는 것이다. 따라서 반도체 일괄 공정으로 제조된 IC라면 그 기능을 불문하고 제8542호 모노리식 IC으로 분류되어야 한다.
또한, 법적인 목적의 품목분류는 관련 부/류의 주 규정과 호/소호의 용어에 따라 해석되어야 하는바, 위 정의에는 전계의 작용 또는 그와의 관련성 등과 같은 요건은 포함되어 있지 아니하며, 따라서 모노리식 IC를 구성하는 회로소자는 전기적 기능과 자기적 기능 등을 모두 가질 수 있다.
반도체 제조 공정은 ① 실리콘 단결정 잉곳으로 웨이퍼(wafer)를 만들어 내는 공정, ② 웨이퍼 위에 반도체 칩을 만드는 공정(전공정) 및 ③ 반도체 칩을 몰딩하여 조립하는 공정(후공정)으로 구성된다.
쟁점물품의 제조공정은 홀 소자를 형성하는 공정 전반부와 IMC를 형성하는 공정 후반부를 포함한 그 전체가 위 반도체 제조공정 중 ②의 전공정으로서 2개의 별개 공정으로 구성되는 것이 아니라 홀 소자와 IMC를 "연속하여 형성"해 나가는 하나의 반도체 제조 공정이다.
쟁점물품은 위와 같은 반도체 제조 일괄 공정을 거쳐 동일한 웨이퍼 위에 홀 소자(hall element)와 신호처리를 위한 다른 회로들이 형성되어 '여러 개의 층으로 이루어진 하나의 케잌'과 같이 한 덩어리 상태로 집적되어 분리 불가능하도록 결합된 물품이므로 관세율표 제8542호(모노리식 IC)에 분류되어야 한다.
처분청은 쟁점물품이 회로 위에 다른 구조물이 부가된 것이므로 관세율표 제8542호에서 제외된다는 의견이나, 쟁점물품이 연속된 반도체 제조 일괄 공정을 통해 하나의 IC로 '형성'되는 것이지 회로 위에 다른 구조물을 부가하는 것이 아니라는 점에서 처분청의 의견은 잘못된 것이다.
앞서 살펴본 바와 같이 쟁점물품의 제조공정은 모두 반도체 제조 일괄 공정의 일부분(전공정)에 해당함에도, 처분청은 관세율표 제8542호 해설서의 내용을 오해하여 '완성된 홀 IC' 위에 단일 디스크 형태의 IMC를 '부가'하여 쟁점물품을 제조한다고 보고 있다. 그러나 쟁점물품은 반도체 공정을 통해서 동일한 웨이퍼 위에 우선 '홀 소자(hall element)' 및 신호처리를 위한 다른 회로를 형성하고, 계속해서 그 위에 IMC를 형성하는 과정을 거친 후 비로소 '홀 IC'로 '완성'되는 것이므로, 홀 소자 등을 형성하는 쟁점물품 제조공정의 전반부를 마치더라도 아직 쟁점물품이 완성된 것이 아니다. 즉, 홀 소자뿐만 아니라 IMC를 형성하는 제조공정 후반부까지 거쳐야 비로소 "한 덩어리 형태로 집적"되어 쟁점물품이 완성되는 것이다.
즉, IMC는 완성된 홀 IC 위에 단순히 '부가된(added)' 것이 아니라, 홀 소자의 제조 공정과 마찬가지의 반도체 공정을 거쳐 '형성된(formed)' 것이다. IMC 공정 이전에 홀 소자를 형성하는 공정(전반부)과 IMC를 형성하는 공정(후반부)은 쟁점물품을 제조하기 위한 하나의 반도체 제조 공정 내에서 단지 개념상 구분하는 것일 뿐이지 그것이 별개의 공정은 아니다. IMC를 형성하는 방식도 홀 소자를 형성하는 방식과 동일한 일련의 반도체 제조 공정이며, 이러한 전체 공정을 거쳐 홀 소자 및 IMC가 한 덩어리 상태로 집적되고 분리 불가능하도록 결합되어 모노리식 IC인 쟁점 물품이 완성된다. 한편, 홀 소자 형성 공정과 IMC 형성 공정이 동일한 장소에서 동시에 수행되지는 아니하였더라도 두 공정은 모두 반도체 제조 일괄 공정의 일부로서 동일한 웨이퍼를 대상으로 수행된다.
또한, 처분청은 IMC를 회로 위에 부가된 '다른 디바이스(device)'로 보고 있으나 IMC는 앞서 살펴본 바와 같이 웨이퍼에 반도체 공정을 거쳐 홀 소자가 형성되면 같은 웨이퍼상에 연속하여 반도체 공정을 거쳐 '형성(form)'되는 것이므로 이러한 제조 과정만 보아도 '다른 디바이스'가 아니라는 점이 명백하다. 게다가 IMC는 쟁점물품(IC)을 구성하는 다른 회로소자인 홀 소자, 다중화회로(Multiplexer), 증폭회로(Gain Control), 아날로그-디지털 변환회로(A/D Converter), 디지털신호처리회로(DSP), 정전압회로(Regulator), 디지털-아날로그 변환회로(D/A Converter)와 마찬가지로 '회로소자' 중 하나일 뿐이다. 따라서 IMC는 처분청의 의견과 같이 회로 위에 부가된 '다른 디바이스'에 해당하지 아니한다.
관세율표 제8542호 해설서는 "전자집적회로는 수동소자나 수동 부품과 능동소자나 능동부품을 고밀도로 조합시킨 초소형화된 장치이며, 단일유닛으로 간주하는 것"이라고 규정하고 있다. 쟁점물품도 다중화회로(MUX), 아날로그-디지털 변환회로(A/D Converter) 등의 능동소자와 저항, 콘덴서, IMC와 결합된 홀 소자 등 수동소자가 고밀도로 조합된 초소형 장치이므로 위 해설서의 내용에 따라 전자집적회로에 해당한다.
또한 동 해설서는 "전자집적회로와 같이 몇 개의 전기회로 요소로 구성되어 여러 가지의 전기기능을 가지는 부품은 개별부품으로 취급되지 않는다. 전자집적회로에는 메모리․마이크로 컨트롤러․제어회로․논리회로․게이트 어레이(gate arrays)․인터페이스 회로 등이 있다"고 규정하고 있는데 이는 전자집적회로가 여러 가지의 전기기능을 가지더라도 개별부품으로 취급되지 아니하고, 나아가 이를 구성하는 회로소자들의 '기능'에 따라 품목분류를 해서는 안 된다는 취지이다.
쟁점물품은 앞서 살펴본 바와 같이 전자집적회로에 해당하므로 여러 가지의 전기기능을 가지더라도 개별부품으로 취급되어서는 안 된다. 처분청은 쟁점물품이 측정기능을 가지므로 관세율표 제9031호의 측정용 기기로 분류되어야 한다고 보았으나, 측정기능은 전자집적회로로서 쟁점물품이 가질 수 있는 여러 가지 전기 기능 가운데 한 가지일 뿐이다(엄밀히 말하면 쟁점 물품이 그 자체로 측정기능을 가지는 것이 아니고 다른 부품과 결합해야만 측정기능을 수행할 수 있게 된다). 따라서 처분청과 같이 쟁점물품이 측정기능을 가지기 때문에 제9031호의 측정용 기기로 분류되어야 한다고 보는 것은 '전자집적회로의 경우 여러 가지의 전기기능을 가지더라도 개별부품으로 취급되지 않는다'는 위 해설의 취지에 정면으로 반하는 것이다.
처분청은 IMC가 회로와 전기적으로 절연되어 회로소자가 아니라는 입장이나, CMOS 공정은 그 자체로 필수불가결하게 절연층을 포함할 수밖에 없으므로 CMOS 공정을 통해 제조되는 회로소자는 모두 절연층을 포함하고 있는 점, IMC는 홀 소자가 형성된 웨이퍼 상에 증착되어 일체로 결합되어 전기적 특성을 가진다는 점 등을 종합하여 볼 때 IMC가 회로소자가 아니므로 모노리식 IC에 해당하지 않는다는 처분청의 주장은 타당하지 아니하다.
쟁점물품과 유사한 홀 IC(Hall IC)에 대하여, 조세심판원은 "모노리식 집적회로는 반도체 재료의 표면에 회로소자를 한 데 모아서 불가분의 상태로 조합한 초소형 회로를 말하는 것으로, 쟁점물품은 하나의 실리콘 기판 위에 약 12,000개의 수동소자, 능동소자 및 Hall Element를 표준화된 반도체 일괄공정으로 분리가 불가능하도록 한 덩어리 상태로 집적한 후 몰딩한 제품으로서, 쟁점물품에 포함된 Hall Element는 수동소자의 일종인 저항기의 형태로 표시되고 있어 수동소자의 성격을 띠고 있는 회로소자로 볼 수 있는 점 등에 비추어 쟁점물품을 HSK 제8543.70-9090호로 분류해야 한다는 처분청의 주장을 배척하고 모노리식 집적회로(제8542.31-1000호)에 부합되는 물품으로 보는 것이 타당하다"고 판단(조심 2014관301, 2015.1.20.)하였다.
관세청장은 홀 IC를 하나의 실리콘 기판 위에 홀 센서와 Controller, A/D Converter 등을 반도체 일괄공정으로 분리가 불가능하도록 내부에 한 덩어리 상태로 집적한 물품으로서 "기타의 모노리식 집적회로"에 해당한다는 이유로 HSK 제8542.39-1000호로 분류한 사례가 다수 존재[품목분류3과-6160(2017.11.16.), 품목분류3과-4719( 2017.8.29.) 등]하고, EU에서도 쟁점물품과 같은 OO대하여 모두 제8542호에 분류[BTI reference BE D.T. 278.357(2013.6.13.) 및 BE D.T. 300.365(2015.3.7.)]하고 있다.
위와 같이 조세심판원과 관세청장은 반도체 일괄 공정을 통해 제조된 IMC 없는 홀 IC를 제8542호 모노리식 IC로 분류한 바 있고, 쟁점물품의 경우 성능 향상을 위해 홀 소자가 형성된 웨이퍼에 몇 개의 층을 더 쌓아 IMC를 추가로 형성하였을 뿐 제조 공정 및 기능상 위 홀 IC와 본질적인 차이가 없을 뿐만 아니라, EU 품목분류사전심사(BTI) 결정 또한 쟁점물품에 대해 제8542호로 일관되게 분류하고 있으므로 쟁점물품은 제8542호로 분류되어야 한다.
나. 처분청 의견
쟁점물품은 IC로 볼 수 없으므로 기타의 측정기기로 분류하여야 한다.
쟁점물품은 자력을 감지하여 자기 신호로 만든 뒤 이를 전기적인 신호로 변환하는 센싱부(평면형 Hall Plate 4개로 구성되며, Triaⓧis로 불림)와 해당 신호를 각도로 계산하는 디지털신호처리부(DSP ; Digital Signal Processing)로 구성된 회로 위에 작은 원판 형태의 강투자율 물질인 IMC를 결합시킨 물품으로, 비접촉 방식으로 360도 절대 각도를 측정하여 0에서 5볼트 사이의 아날로그 전압값 내지 0에서 100% 사이의 디지털 변조값으로 출력되며, 자동차의 엑셀레이터, 브레이크 페달, 트로틀, 조향각, 모터샤프트 등의 위치 감지 등에 사용된다.
쟁점물품은 OO자동차용 혼합 신호 CMOS 기술과 OO통합 자기집중장치 기술을 결합하여 기존 평면 홀 기술에서 작용하던 IC표면에 수직인 자속밀도 뿐 아니라 IC표면에 평행인 자속밀도에도 민감하게 작용함으로써 2축(X,Y) 또는 3축(X,Y,Z)의 자기장 측정이 가능하다.
쟁점물품의 센싱부는 IC표면에 평행인 자속밀도를 감지하기 위해 2쌍의 수직으로 교차된 평면 홀 플레이트 위에 통합자기집중장치(IMC)가 결합된 형태로, 말레이시아 OO공장은 Hall Plate 4개와 DSP로 구성된 집적회로를 제조하고, 독일 OO말레이시아에서 제조된 집적회로에 전도체 역할을 하는 TiW-CU층을 증착시키고, 포토공정으로 만들어진 패턴에 전기도금을 통해 자성을 띠는 금속물질인 NiFe를 증착시킨 다음 감광액을 벗겨내고 TiW-Cu 전도층을 식각함으로써 IMC를 완성하며, 필리핀 공장은 이를 몰딩하여 최종적으로 쟁점물품을 완성한다.
관세율표 제90류에는 주로 광학기기, 측정기기, 검사기기 등이 분류되고, 그 중 제9031호에는 '그 밖의 측정용이나 검사용 기기(이 류에 따로 분류되지 않은 것으로 한정한다)와 윤곽 투영기'가 분류되는데, 제9031호에 대한 관세율표 해설서는 '이 호에는 윤곽투영기 이외에 측정 또는 검사용 기기를 포함한다'고 하면서, '(27) 재료의 흠·균열 또는 기타의 결함검출장치, (29) 응력 및 왜력의 전기식 측정용기기'와 같이 자기의 변동 또는 투자율의 변동과 저항치의 변동 등에 따른 여러 종류의 변량을 측정 또는 검사하는 기기를 예시하고 있다.
쟁점물품은 센싱부에서 표면에 인가된 자속의 세기를 감지하고 자기장의 변화에 따라 이에 해당하는 회전 또는 선형위치를 측정한 뒤 그 신호를 디지털신호처리부에서 해당 전압값으로 출력하는 기능을 수행하는 물품으로, 자속을 감지하여 위치 등을 측정하는 기능은 관세율표 제9031호에서 설명하고 있는 측정에 해당한다.
청구법인은 쟁점물품이 제8542호에 분류된다고 주장하나, 제85류가 속해 있는 관세율표 제16부 주 제1호에 '제90류의 물품'을 제외되는 물품으로 명시하고 있어 관세율표 제9031호에 분류되는 쟁점물품은 제16부에 분류될 수 없다.
그리고 관세율표 제85류 주 제8호는 '이 주에서 규정한 물품을 분류하는 경우 제8541호 또는 제8542호는, 제8523호의 경우를 제외하고, 특히 그 기능으로 보아 해당 물품을 포함하는 것으로 해석되는 이 표의 다른 어느 호보다 우선한다'고 규정하면서, 같은 호 나목을 통하여 제8541호와 제8542호에서의 전자집적회로를 '1) 모노리식 집적회로, 2) 하이브리드 집적회로, 3) 복합구조칩 집적회로'로 구분하고 있다.
관세율표 제8542호에 대한 해설서는, (a) 인쇄회로로 형성된 지지물 위에 하나 이상의 개별부품을 장착한 것, (b) 전자초소형회로 위에 다이오드, 변화기, 또는 저항기 등 하나 또는 그 이상의 다른 디바이스를 부가한 것, (c) 개별 부품끼리 결합한 것 또는 복합구조칩 집적회로 이외의 방식으로 초소형회로를 결합한 것을 이 호에서 제외되는 물품으로 명시하고 있는바, 쟁점물품은 Wafer Fab 공정을 통해 완성된 Hall 센서 전자집적회로 위에 NiFe재질로 된 단일 디스크 형태의 IMC를 부가한 것으로, IMC는 CMOS 홀센서의 성능을 향상시키는 특수 구조물에 해당하고, HS 제8542호에서 제외되는 조립품 중 '전자초소형회로 위에 다이오드, 변화기, 또는 저항기 등 하나 또는 그 이상의 다른 디바이스를 부가한 것'에서의 '부가'라 함은 별도 공정을 통해 생산된 디바이스 조립만을 한정하고 있지 않으므로, 쟁점물품과 같이 이미 완성된 집적회로 위에 별개의 박막공정을 통해 디바이스를 형성하는 것 또한 포함된다고 보아야 할 것이다.
모노리식 집적회로는 ① 반도체 재료에 ② 회로소자가 ③ 불가분의 상태로 결합된 것을 말하는바, 회로소자는 인덕턴스․저항기․축전기 등의 수동소자와 다이오드․트랜지스터 등의 능동소자로 구분되는데, IMC는 홀 플레이트(Hall plate) 및 전자신호처리부(DSP)로 구성된 회로와 전기적으로 절연되어 전기신호 또는 전류의 흐름 등과 무관하게 주변의 자속량을 모아주거나 IC에 평행한 자기장을 수직 방향으로 바꾸어 주는 역할만을 하므로 회로소자에 해당되지 않는다.
관세청장은 2014.12.9. 쟁점물품과 같은 모델인 OO및 홀센서 IC에 자기장의 흐름을 유도하기 위하여 말굽모양의 concentrator를 결합한 물품에 대하여 HSK 제9031.80-9099호로 분류하였고, 조세심판원도 위 말굽모양의 concentrator가 결합된 홀 센서 IC에 대하여 제9031호로 분류하는 것이 타당하다는 결정을 한 바 있다(조심 2015관115․190, 2015.12.31.).
따라서, 쟁점물품은 완성된 홀 센서 IC 웨이퍼에 별도의 IMC 공정을 통하여 IMC를 부가한 것으로 관세율표 제8542호의 모노리식 집적회로에 해당하지 않는다.
청구법인은 자기집중장치가 없는 Hall 센서 IC의 품목분류사례 및 조세심판원 결정례를 언급하고 있는데, 이들 사례 및 결정례는 Hall 센서 IC에 자속량을 모아주는 concentrator가 없는 물품에 대한 것으로 쟁점물품과 구조가 달라 이 건에 그대로 적용할 수 없다.
3. 심리 및 판단
가. 쟁점
쟁점물품을 모노리식 IC로 보아 HS 제8542호에 분류할지, 기타의 측정기기로 보아 HS 제9031호에 분류할지
나. 관련 법령 등 : ＜별지＞ 기재
다. 사실관계 및 판단
(1) 쟁점물품은 반도체 제조 공정으로 동일한 웨이퍼 상에 평면형 Hall Plate(실리콘 재질의 2차원 평면 형태로 회로소자 형태이고 자속량을 감지) 4개와 DSP(Digital Signal Processing, 디지털신호처리) 및 작은 원판 형태의 강투자율 물질[IMC(Integrated Magnetic Concentrator) : 자기통합집중장치로 NiFe 재질의 디스크 형태로 주변의 자속량을 모아 Hall plate가 보다 쉽게 자속량을 감지할 수 있도록 보완해주는 기능을 수행]을 일체로 형성시킨 후 패키징한 것으로, 표면에 인가된 자속의 세기를 감지하여 비접촉 방식으로 360도 절대 각도를 측정하고 이를 0에서 5볼트 사이의 아날로그 전압값 내지 0에서 100% 사이의 디지털 변조값으로 출력하며, 자동차의 액셀러레이터, 브레이크 페달, 트로틀, 조향각, 모터샤프트 등의 위치 감지 등에 사용된다.
(2) 쟁점물품의 내부구조는 크게 자력을 감지하여 자기 신호로 만든 뒤 이를 전기적인 신호로 변환하는 센싱부(Triaⓧis로 표시)와 해당 신호를 각도로 계산하는 디지털신호처리부로 구성되어 있고, 센싱부의 IMC와 Hall Plate는 전기적으로 서로 절연되어 있다.
쟁점물품은 Triaⓧis sensor라고도 불리는데, Triaⓧis 기술이란 OO자동차용 혼합 신호 CMOS 기술과 OO통합 자기집중장치 기술을 결합한 자기감지기술로서, 쟁점물품은 Triaⓧis 기술 적용을 통해 기존 평면 홀 기술에서 작용하던 IC표면에 수직인 자속밀도 뿐 아니라 IC 표면에 평행인 자속밀도에도 민감하게 작용함으로써 2축(X,Y) 또는 3축(X,Y,Z)의 자기장 측정이 가능하다.
(3) 쟁점물품은 말레이시아에서 Hall Plate 4개와 DSP로 구성된 집적회로를 제조하고, 독일에서 박막공정을 통해 NiFe 재질의 통합자기집중장치(IMC)를 증착하며, 필리핀에서 패키징 공정을 수행한다.
구체적인 공정으로 먼저, Hall Element는 ① Grow field oxide(P형 기판에 절연체로 사용되는 SiO2층 형성) → ② Etch oxide for pMOSFET(산화막 식각) → ③ Diffuse n-well(pMOS용 n-well층 형성) → ④ Etch oxide for nMOSFET(산화막 식각) → ⑤ Grow gate oxide(게이트 산화막 성장) → ⑥ Deposit polysilicon(폴리실리콘 증착) → ⑦ Etch polysilicon ＆ oxide → ⑧ Implant sources ＆ drains(이온주입을 통한 source와 drain 형성) 과정을 거쳐 제조되고, IMC는 ⑨ Grow nitride(질화막 성장) → ⑩ Etch nitride(질화막 식각) → ⑪ Deposit metal(금속 증착) → ⑫ Etch metal(금속 식각) 공정을 거쳐 제조된다.
(4) 처분청은 위 IMC 제조공정에 대하여, 말레이시아에서 완성된 HALL센서 IC 웨이퍼를 독일 OO공장에 입고하여 OO공정을 통해 이 IC 웨이퍼 위에 전도체 역할을 하는 TiW-Cu층을 증착시키고, 포토공정으로 만들어진 패턴에 전기도금을 통해 자성을 띠는 금속물질인 NiFe를 증착시킨 다음 감광액을 벗겨내고 TiW-Cu 전도층을 식각함으로써 IMC를 완성한다는 의견이나, 청구법인은 IMC 공정이 하나의 반도체 재료 위에 반도체 제조기술로 홀 소자와 IMC를 연속적으로 형성하는 반도체 제조 공정의 일부로서 홀 소자와 IMC를 한 덩어리 상태로 집적하여야 완성된 홀 센서 IC가 된다고 하면서, 완성된 IC 위에 단순히 IMC를 부가하는 별개의 공정이 아니라고 주장한다.
(5) 관세율표 제85류의 주 8 나목에서 모노리식 집적회로를 "회로소자(다이오드·트랜지스터·저항기·축전기·인덕턴스 등)가 하나의 반도체 재료나 화합물반도체 재료(예 : 도프된 실리콘, 비소화갈륨, 실리콘 게르마늄, 인화인듐)의 내부나 표면에 한 덩어리 상태로 집적되어 있으며, 분리가 불가능하도록 결합된 회로"라고 정의하고 있다.
한편 관세율표 제8542호에 대한 HS 해설서는 전자집적회로에서 (a) 인쇄회로로 형성된 지지물 위에 하나 이상의 개별부품을 장착한 것, (b) 전자초소형회로 위에 다이오드, 변화기, 또는 저항기 등 하나 또는 그 이상의 다른 디바이스를 부가한 것 및 (c) 개별 부품끼리 결합한 것 또는 복합구조칩 집적회로 이외의 방식으로 초소형회로를 결합한 것은 제외된다고 규정하고 있다.
(6) 관세율표 제85류 주 5에서 인쇄회로를 "인쇄제판기술이나 막회로기술로 도체소자․접속자나 그 밖의 인쇄된 구성부분(예: 인덕턴스․저항기․축전기)을 절연기판 위에 형성하여 만든 회로를 말한다. 다만, … 전기적인 신호를 발생․정류․변조․증폭할 수 있는 소자(예: 반도체소자)는 제외한다"고 규정하고 있다.
(7) 위 (5)에 언급된 회로소자 중 수동소자에 해당하는 물품의 종류와 관세율표 해설서에 규정된 그 물품의 설명은 아래와 같다.
(8) 청구법인은 IMC가 자기저항회로로서 회로소자에 해당하고, 위 제조공정과 같이 하나의 반도체 재료 위에 IC Layer와 IMC가 일괄공정에 의해 제조되어 IMC가 별도로 IC에 부가되는 것이 아니므로 쟁점물품은 모노리식 IC에 해당한다고 주장하는 반면, 처분청은 IMC는 전기적으로 절연되어 있고 전계가 아닌 자계와 관련된 물품이므로 회로소자에 해당하지 아니하고, 반도체 제조공정에 의해 IMC가 형성되더라도 이미 완성된 IC위에 추가로 형성되는 것이므로 이는 결과적으로 별도 소자가 IC에 부가되는 것이어서 모노리식 IC로 볼 수 없다는 의견이다.
(9) 관세평가분류원장은 2014.12.9. 관세품목분류위원회 결정에 따라 품목분류3과-2663호로 쟁점물품과 동일한 "ANGLE LINEAR POSITION SENSOR IC ; OO대하여 'IMC는 주변의 자속량을 모아주는 기능을 수행하는 NiFe 재질의 물품으로서 관세율표 제8534호에서 설명하고 있는 회로소자가 아닌 기타 구조물이고, IMC 공정은 Wafer Fab 공정을 통해 완성된 모노리식 IC 위에 NiFe 재질의 원형 단일 디스크 형태의 물질을 기타 구조물로서 별개의 박막공정에 의해 증착하는 것이므로 이는 관세율표 제8542호에서 규정한 전자집적회로에 해당되지 않는다'는 이유로 HSK 제9031.80-9099호로 분류하였고, 동일한 기능을 수행하나 홀 센서 IC에 별도로 말굽 형상의 콘센트레이터를 결합한 물품도 그 기능에 따라 HSK 제9031.80-9099호로 분류하였다.
(10) 관세청의 품목분류와 관련하여 IMC 또는 콘센트레이터가 없으나 동일한 기능을 수행하는 홀 센서 IC에 대하여 2004년부터 2018년까지 모노리식 IC로 보아 HS 제8542호에 분류한 사례가 다수 확인되고, IMC 등이 결합되어 있지 아니하나 동일한 기능을 수행하는 홀 센서 IC에 대하여 과세관청이 2016년까지 'HS 제85류에 따로 분류되지 않은 것으로서 고유한 기능을 가진 기타의 전기기기'로 보아 HS 제8543호로 분류한 사례도 다수 존재하는 것으로 확인된다.
(11) 이상의 사실관계 및 관련 법령 등을 종합하여, 이 건에 대하여 살피건대, 청구법인은 홀 센서 IC 부분과 IMC가 하나의 반도체 재료 위에서 CMOS 기술로 형성되어 한 덩어리 상태로 분리 불가능하도록 결합되어 있으므로 쟁점물품을 모노리식 IC로 보아 HS 제8542.39-1000호에 분류하여야 한다고 주장하나,
품목분류에 있어 제8542호는 제85류 주 8의 "특히 그 기능으로 보아 해당 물품을 포함하는 것으로 해석되는 이 표의 다른 어느 호보다 우선한다"는 규정에 따라 이에 해당하는지, 즉 모노리식 IC에 해당하는지를 먼저 검토하여야 하는데, 관세율표 제85류 주 8 나목에서 규정한 모노리식 IC의 정의를 고려하면, 쟁점물품은 모노리식 IC와 IMC가 결합된 형태로, 그 구성부분인 IMC가 전기적으로 절연되어 있고 자기를 모아주는 역할을 하므로 전계효과를 이용한 반도체 디바이스에 해당하거나 IC의 회로를 구성하는 도체소자․접속자나 능․수동소자에 해당하는 것으로 보기는 어려워 결국 이를 모노리식 IC에 해당한다고 단정하기 어려운 점, 그렇다면 쟁점물품은 그 기능에 따라 해당 호에 분류하여야 할 것인데, 쟁점물품은 표면에 인가된 자속의 세기를 감지하여 비접촉 방식으로 360도 절대 각도를 측정하고 이를 0에서 5볼트 사이의 아날로그 전압값 내지 0에서 100% 사이의 디지털 변조값으로 출력하는 기능을 수행하는바, 이는 바로 제9031호에서 말하는 측정기능에 해당하는 것으로 보이는 점 등에 비추어 결국 쟁점물품이 HSK 제9031.80-9099호에 분류된다고 보아 청구법인의 경정청구를 거부한 처분은 잘못이 없다고 판단된다.
4. 결론
이 건 심판청구는 심리결과 청구주장이 이유 없으므로 「관세법」제131조, 「국세기본법」 제81조 및 제65조 제1항 제2호에 의하여 주문과 같이 결정한다. |
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