관세율표 | 분류사례 | 세율 | 수출입요령 | 관련법령 | 판례·예규 | 도구 | 게시판 English HSK
HSK 품명 구분 시행일
9031.80-9099 AutotransMission Tester(차량의 자동변속기의 유압, 통전, 회전수, 기어비 등을 측정하는 장비) 결정 03-06-15
9027.80-2090 다항목수질측정기; YSI6600 결정 02-08-09 2003-10-07
9031.80-9099 야세나비; 개인용 건강보조기구(운동량측정기구) 결정 02-04-04
9031.80-9099 AHB(Avionics Hot Bench)시스템 ; 항공전자시스템 통합시험장비 결정 02-03-09
9031.80-9099 Measuring or checking instruments, appliances and machines ; EGR-VALVE INSPECTION 결정 01-09-10
9031.80-9099 BreathScan ; Alcohol Detector ; 일회용 음주측정기 결정 01-09-08
9031.80-9099 personal alcohol detecter(혈중알콜농도측정기) 결정 01-01-04
9031.80-9091 Wafer Analysis Instrument ; RS75/TC(OmniMap RS75) ; 반도체웨이퍼의 측정 또는 검사용기기 결정 01-04-12
9031.80-9080 다이나모미터(dynamometers) →동력 시험기
9031.80-9070 Instruments for detecting faults cracks or other defects ; Inspection System ; UHR2000 결정 02-02-26
9031.80-9070 Instrument for detecting faults cracks or other defects ; 979 Helium Leak Detector 결정 00-05-05
9031.49-9090 Automated Filter Tester ; 8130 (에어필터 분석장비) 결정 03-07-14
9031.49-9090 Other Optical instruments and appliances ; PDP Pattern Inspection ; Super Neptune 9000 결정 03-05-27
9031.49-9090 Other Optical instruments and appliances ; Seal Inspection 결정 03-05-26
9031.49-9090 Other Optical instruments and appliances ; PI Inspection 결정 03-05-25
9031.49-9090 Other Optical instruments and appliances ; CD Meter ; ZA- 2000HDS ; TFT LCD제조공정에서 LCD Glass상에 형성된 패턴과 칼라필터의 선폭을 측정하는 장비 결정 03-05-06
9031.49-9090 Optical instruments and appliances ; Particle Counter(이물질 검사장비) ; HS-730 결정 03-03-37
9031.49-9090 Pattern Inspection System(평판디스플레이회로검사기) ; LC-Series, FPI-Series(FPI-7000) 결정 03-03-26
9031.49-9090 Optical instrument and appliances ; Microprocessing M/C ; Amic1700 ; Sokkia Fine System 결정 03-03-18
9031.49-9090 Optical Instrument and appliances ; PWB(Printed Work Board) Visual Inspection Machine ; CPC-1500 결정 02-02-27
9031.49-9090 광학식 자(Optical rules) →광학식 측정 또는 검사용 기기
9031.49-9090 광학식 또는 눈금자가 있는 비교 측정기(scale comparators) →광학식 측정 또는 검사용 기기
9031.49-9090 광파 간섭계(Interferometers) →광학식 측정 또는 검사용 기기
9031.41-9000 Appliance For inspecting semiconductor wafers; MetaPULSE200; Film Metrology System: RUDOLPH 결정 01-07-28
9031.41-9000 Instrument for inspecting reticles ; File Server ; KT95 ; 반도체검사장비의 자료저장장치 결정 01-06-13
9030.90-9010 Device Test Interface System ; For Test System(T5365, T5581, T5382, T5585, T5371, J996) 결정 03-06-16
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